2.12 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)

2.12 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)
ชิ้นและแป้งเม็ดสัณฐานถูกตรวจสอบโดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ตัวอย่างถูกติดตั้งอยู่บนอลูมิเนียมที่ยึดชิ้นงานด้วยเทปสองด้าน ตัวอย่างผู้ถือถูกโหลดในปะทุ Coater Emitech K550 (Emitech, Ashford, สหราชอาณาจักร) กลุ่มตัวอย่างที่ได้รับการเคลือบด้วยแพลเลเดียมทองที่ความหนาประมาณ 15 นาโนเมตรและดูภายใต้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน(S-2400 ฮิตาชิอิบารากิ, ญี่ปุ่น) ดำเนินการเร่งแรงดันไฟฟ้า 10 kV.
2.13 การวิเคราะห์สถิติ
การวัดทั้งหมดถูกดำเนินการในเพิ่มขึ้นสามเท่าสำหรับแต่ละตัวอย่าง. วิเคราะห์ข้อมูลโดยใช้ซอฟต์แวร์ทางสถิติ (SPSS สำหรับ Windows เวอร์ชัน 14.0) สองทาง ANOVA ได้ดำเนินการเพื่อตรวจสอบผลกระทบโดยรวมของการรักษาอุณหภูมิได้รับการรักษาและการอบแห้งและการมีปฏิสัมพันธ์ (รักษาได้อย่างไร? รักษา? อุณหภูมิอบแห้ง) ในแต่ละของการตรวจ ผลกระทบของแต่ละบุคคลและการมีปฏิสัมพันธ์ระหว่างปัจจัยที่ได้รับการคำนวณ ความแตกต่างอย่างมีนัยสำคัญระหว่างวิธีการประมาณโดยใช้ของดันแคนทดสอบช่วงหลาย ความแตกต่างได้รับการพิจารณาอย่างมีนัยสำคัญที่ p

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.12 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ชิ้นและแป้งเม็ดสัณฐานถูกตรวจสอบโดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนตัวอย่างถูกติดตั้งอยู่บนอลูมิเนียมที่ยึดชิ้นงานด้วยเทปสองด้านตัวอย่างผู้ถือถูกโหลดในปะทุ Coater Emitech K550 (Emitech แอชฟอร์ด สหราชอาณาจักร) ดำเนินการเร่งแรงดันไฟฟ้านาโนเมตรและดูภายใต้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (S-2400 ฮิตาชิอิบารากิ ญี่ปุ่น) กลุ่มตัวอย่างที่ได้รับการเคลือบด้วยแพลเลเดียมทองที่ความหนาประมาณ 15 10 kV 2.13 การวิเคราะห์สถิติการวัดทั้งหมดถูกดำเนินการในเพิ่มขึ้นสามเท่าสำหรับแต่ละตัวอย่าง วิเคราะห์ข้อมูลโดยใช้ซอฟต์แวร์ทางสถิติ (SPSS สำหรับ Windows เวอร์ชัน 14.0) สองทาง ANOVA ได้ดำเนินการเพื่อตรวจสอบผลกระทบโดยรวมของการรักษาอุณหภูมิได้รับการรักษาและการอบแห้งและการมีปฏิสัมพันธ์ (รักษาได้อย่างไร? รักษา? อุณหภูมิอบแห้ง) ในแต่ละของการตรวจผลกระทบของแต่ละบุคคลและการมีปฏิสัมพันธ์ระหว่างปัจจัยที่ได้รับการคำนวณความแตกต่างอย่างมีนัยสำคัญระหว่างวิธีการประมาณโดยใช้ของดันแคนทดสอบช่วงหลายความแตกต่างได้รับการพิจารณาอย่างมีนัยสำคัญที่ p < 0.05

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.12 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)
ชิ้นและแป้งเม็ดสัณฐานถูกตรวจสอบ โดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนตัวอย่างถูกติดตั้งอยู่บนอลูมิเนียมที่ยึดชิ้นงานด้วยเทปสองด้านตัวอย่างผู้ถือถูกโหลดในปะทุ Coater Emitech K550 (Emitech, Ashford, สหราชอาณาจักร) กลุ่มตัวอย่างที่ได้รับการเคลือบด้วย แพลเลเดียมทองที่ความหนาประมาณ 15 นาโนเมตรและดูภายใต้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (S-2400 ฮิตาชิอิบารากิ, ญี่ปุ่น) ดำเนินการเร่งแรงดันไฟฟ้า 10 kV.
2.13 วิเคราะห์สถิติหัวเรื่อง: การ
หัวเรื่อง: การวัดทั้งหมดถูกดำเนินหัวเรื่อง: การเพิ่มขึ้นในห้างหุ้นส่วนจำกัดสามเท่าสำหรับแต่ละตัวอย่าง arrow วิเคราะห์ข้อมูลโดยใช้ซอฟต์แวร์ทางสถิติ (SPSS สำหรับวินโดวส์เวอร์ชัน 14.0) สองทาง ANOVA ได้ดำเนินการเพื่อตรวจสอบผลกระทบ โดยรวมของการรักษาอุณหภูมิได้รับการรักษาและการอบแห้งและการมีปฏิสัมพันธ์ (รักษาได้อย่างไร? รักษา? อุณหภูมิอบแห้ง) ในแต่ละของการตรวจผลกระทบของ แต่ละบุคคลและการมีปฏิสัมพันธ์ระหว่างปัจจัยที่ได้รับการคำนวณความแตกต่างอย่างมีนัยสำคัญระหว่างวิธีการประมาณโดยใช้ของดันแคนทดสอบช่วงหลายความแตกต่างได้รับการ พิจารณาอย่างมีนัยสำคัญที่ p <0.05

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.12 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( SEM )ชิ้นและแป้งเม็ดสัณฐานถูกตรวจสอบโดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนตัวอย่างถูกติดตั้งอยู่บนอลูมิเนียมที่ยึดชิ้นงานด้วยเทปสองด้านตัวอย่างผู้ถือถูกโหลดในปะทุเครื่องเคลือบ emitech k550 ( emitech แอชฟอร์ด สหราชอาณาจักร , กลุ่มตัวอย่างที่ได้รับการเคลือบด้วยแพลเลเดียมทองที่ความหนาประมาณ 15 นาโ ) นเมตรและดูภายใต้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( s-2400 ฮิตาชิอิบารากิญี่ปุ่น , ) ดำเนินการเร่งแรงดันไฟฟ้า 10 kV .2.13 การวิเคราะห์สถิติการวัดทั้งหมดถูกดำเนินการในเพิ่มขึ้นสามเท่าสำหรับแต่ละตัวอย่าง . วิเคราะห์ข้อมูลโดยใช้ซอฟต์แวร์ทางสถิติ ( SPSS สำหรับ Windows เวอร์ชัน 14.0 ) สองทาง ANOVA ได้ดำเนินการเพื่อตรวจสอบผลกระทบโดยรวมของการรักษาอุณหภูมิได้รับการรักษาและการอบแห้งและการมีปฏิสัมพันธ์ ( รักษาได้อย่างไร ? รักษา ? อุณหภูมิอบแห้ง ) ในแต่ละของการตรวจผลกระทบของแต่ละบุคคลและการมีปฏิสัมพันธ์ระหว่างปัจจัยที่ได้รับการคำนวณความแตกต่างอย่างมีนัยสำคัญระหว่างวิธีการประมาณโดยใช้ของดันแคนทดสอบช่วงหลายความแตกต่างได้รับการพิจารณาอย่างมีนัยสำคัญที่ P < 0.05