selected for 5 min holding time for

selected for 5 min holding time for the first set of experiments.
The sample compacted at 650 C has achieved a
densification of only 85 %. The samples compacted at 750
and 850 C were further compacted for 2 and 0 min
holding time at respective temperatures.
Powder XRD analysis was performed to determine the
crystal phases: Fig. 1a–i presents several XRD patterns
from the as prepared and compacted Mg2Si nanopowder
and compacts obtained under different SPS parameters (as
detailed in Table 1). XRD pattern from pristine bulk Mg2Si
is shown in Fig. 1a and it confirms some contamination of
oxides and Si impurities. Figure 1b clearly shows after ball
milling Mg2Si has major crystalline phase, and it also
revealed that traces of MgO and Si phases are still present
in the ball-milled Mg2Si powder. The presence of MgO and
Si originate from raw starting materials and partly due to
the oxidation of Mg2Si during the BM process [24]. XRD
patterns from Mg2Si powder and compacted samples were
indexed using reference patterns for Mg2Si (JCPDS#
00-035-0773), MgO (JCPDS# 00-045-0946), and Si
(JCPDS# 04-001-7247). Figure 1c–i clearly show that the
peak intensity of free Si is reducing during the SPS processing.
It is also important to note that the XRD peaks of
BM Mg2Si powder are significantly broader as compared to
the sintered samples revealing the increase in crystallite
size of the compacted samples under sintering conditions.
The presence of MgO phase is detrimental for TE performance
of silicide, as reported by Fiameni et al. [25]. The
pristine materials contain about 6 % of the MgO phase as
reported in earlier works [25]. All the samples sintered at
750 C present lower MgO amounts (10 %) with respect to
the samples sintered at 850 C (in as much as approximately
19 %). Rietveld refinement was employed to estimate
the crystallite size and the average crystallite size is
reported in the range from 120 to 240 nm (See Table 1).
The geometrical (d = m/V) and theoretical density values
(Rietveld refinement) are reported in Table 1 for samples

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เลือกเวลา 5 นาทีถือเวลาสำหรับชุดแรกของการทดลอง.
ตัวอย่างการบดอัดที่ 650
องศาเซลเซียสมีความหนาแน่นเพียง85% กลุ่มตัวอย่างที่บดอัดที่
750? C และ 850 ถูกบดอัดอีก 2 คนและ 0
นาทีถือเวลาที่อุณหภูมิตามลำดับ.
ผงวิเคราะห์ XRD
ได้ดำเนินการเพื่อตรวจสอบขั้นตอนคริสตัล: รูป i-1a นำเสนอหลายรูปแบบ XRD
จากเป็นที่เตรียมไว้และบดอัด nanopowder Mg2Si
และอัดที่ได้รับภายใต้พารามิเตอร์ที่แตกต่างเอสพีเอ
(เป็นรายละเอียดในตารางที่1) รูปแบบ XRD จากที่เก่าแก่จำนวนมาก Mg2Si
แสดงในรูป 1a
และยืนยันการปนเปื้อนของออกไซด์และสิ่งสกปรกศรี รูปที่ 1b
แสดงให้เห็นชัดเจนหลังจากที่ลูกกัดMg2Si
มีผลึกที่สำคัญและยังเปิดเผยว่าร่องรอยของMgO
และขั้นตอนศรียังคงอยู่ในลูกแป้งผงMg2Si การปรากฏตัวของ MgO
และศรีมาจากวัสดุที่เริ่มต้นดิบและส่วนหนึ่งเป็นเพราะการเกิดออกซิเดชันของ
Mg2Si ในระหว่างกระบวนการ BM [24] XRD
รูปแบบจากผง Mg2Si
และตัวอย่างอัดได้รับการจัดทำดัชนีโดยใช้รูปแบบการอ้างอิงสำหรับการMg2Si (JCPDS #
00-035-0773) MgO (JCPDS # 00-045-0946) และศรี
(JCPDS # 04-001-7247) รูปที่ 1
c-ผมแสดงให้เห็นชัดเจนว่าจุดสูงสุดของฟรีศรีคือการลดในระหว่างการประมวลผลSPS.
ยังเป็นสิ่งสำคัญที่จะทราบว่ายอด XRD
ของผงBM Mg2Si
อย่างมีนัยสำคัญที่กว้างขึ้นเมื่อเทียบกับตัวอย่างเผาเผยให้เห็นการเพิ่มขึ้นของผลึกขนาดของ
ตัวอย่างอัดภายใต้เงื่อนไขการเผา.
การปรากฏตัวของเฟส MgO เป็นอันตรายสำหรับการทำงาน TE
ของซิลิไซด์รายงานโดย Fiameni et al, [25]
วัสดุที่เก่าแก่มีประมาณ 6% ของเฟส MgO
เป็นรายงานในผลงานก่อนหน้านี้[25] ทั้งหมดตัวอย่างเผาที่
750 องศาเซลเซียสนำเสนอจำนวน MgO ต่ำ (10%)
ส่วนที่เกี่ยวกับกลุ่มตัวอย่างเผาที่850 องศาเซลเซียส (ในมากที่สุดเท่าที่ประมาณ
19%) การปรับแต่ง Rietveld
ถูกจ้างมาเพื่อประเมินขนาดผลึกและขนาดผลึกเฉลี่ยรายงานในช่วง
120-240 นาโนเมตร (ดูตารางที่ 1).
เรขาคณิต (d = เมตร / V) และค่าความหนาแน่นทางทฤษฎี
(การปรับแต่ง Rietveld) มีการรายงานใน ตารางที่ 1 ตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เลือก 5 นาทีเวลาถือสำหรับชุดแรกของการทดลอง
ตัวอย่างกะบะที่ 650  C ได้รับ
หนาแน่นเพียง 85% ตัวอย่างที่บดอัดที่ 750
และ 850  C ได้อัด 2 และ 0 นาที

ถือเวลาที่อุณหภูมินั้นๆ การวิเคราะห์ XRD ผงได้ระยะ 1A –
คริสตัลรูปที่ผมนำเสนอหลายรูปแบบ
รังสีเอ็กซ์จากที่เตรียมไว้ และอัด mg2si นาโนพาวเดอร์
ชิ้นงานได้รับภายใต้ SP ที่แตกต่างกันและค่า (
รายละเอียดตามตารางที่ 1 ) วิเคราะห์รูปแบบจาก
เป็นกลุ่ม mg2si เก่าแก่ที่แสดงในรูปที่ 1A และยืนยันมีการปนเปื้อนของ
ออกไซด์และซิลิกอนปลอม รูป 1B แสดงให้เห็นชัดเจนหลังจาก mg2si กัดบอล
มีสาขาคริสตัล เฟส และมันยัง
พบว่าร่องรอยของ MgO และระยะศรียังคงอยู่
ในบอล mg2si บดผง การปรากฏตัวของ MgO
ศรีมาจากวัตถุดิบวัสดุเริ่มต้น และฝนเนื่องจาก
mg2si ในระหว่างกระบวนการออกซิเดชันของ BM [ 24 ] XRD
ลวดลายจาก mg2si ผง และอัดตัวอย่าง
ดัชนีใช้รูปแบบการอ้างอิงสำหรับ mg2si ( jcpds #
00-035-0773 ) MgO ( jcpds #ศรี
00-045-0946 )( jcpds # 04-001-7247 ) รูป 1C และผมแสดงให้เห็นชัดเจนว่า ความเข้มสูงสุด
ชีฟรีในการประมวลผล ลด SP .
ยังเป็นสิ่งสำคัญที่จะต้องทราบว่า XRD พีคของ
BM mg2si ผงเป็นอย่างที่กว้างขึ้นเมื่อเทียบกับ
เผาตัวอย่างเปิดเผยเพิ่มขึ้นในขนาดของผลึกตัวอย่างภายใต้การผนึกแน่น

่การปรากฏตัวของ MgO เป็น detrimental เพื่อไปยังงานเฟส
ของซิลิไซด์ , รายงานโดย fiameni et al . [ 25 ]
วัสดุที่เก่าแก่มีประมาณร้อยละ 6 ของเฟส MgO เป็น
รายงานในก่อนหน้านี้ผลงาน [ 25 ] ตัวอย่างทั้งหมดมาเผาที่
750  C ปัจจุบันลดปริมาณ MgO ( 10% ) ด้วยความเคารพ
ตัวอย่างการเผาอบผนึกที่อุณหภูมิ 850 องศาเซลเซียส ( ใน  เท่าที่ประมาณ
19 % ) การปรับแต่งค่า
ใช้ไรเ เวลขนาดผลึกที่มีขนาดเฉลี่ยและ
รายงานในช่วง 120 - 240 nm ( ดูตารางที่ 1 ) .
เรขาคณิต ( D = m / v ) และความหนาแน่นทางทฤษฎีค่า
( ไรเ เวลคอร์ปอเรชั่น ) จะมีการรายงานในตารางที่ 1 ตัวอย่าง