Technical Background Optical Freque

Technical Background
Optical Frequency Domain Reflectometry (OFDR)
Luna’s shape and position sensing technology is based on optical frequency domain reflectometry (OFDR). Using the basic network topology shown in Figure 4, OFDR provides a means of measuring distributed strain along an optical fiber with extremely high resolution. Using state-of-the-art phase-tracking techniques to compare Rayleigh scatter measurements with a baseline reference state, Luna’s OFDR system can achieve +/- 1.6με resolution over 1.5mm [1] and better than 50m/point spatial resolution [2]. The OFDR topology shown in Figure 4 is the basis for a number of Luna’s core technologies, including the OBRTM optical network interrogator and ODiSITM distributed sensing system.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ด้านเทคนิค Reflectometry โดเมนความถี่ของแสง (OFDR) รูปร่างของลูน่าและเทคโนโลยีการตรวจตำแหน่งจะขึ้นอยู่กับ reflectometry โดเมนความถี่ของแสง (OFDR) ใช้โทโพโลยีเครือข่ายแบบพื้นฐานที่แสดงในรูปที่ 4, OFDR แสดงวิธีวัดต้องใช้แจกจ่ายไปตามใยแก้วนำแสงที่มีความละเอียดสูงมาก ใช้เทคนิคการติดตามระยะรัฐ-of-the-art การเปรียบเทียบการวัดการกระจายราคาย่อมเยา มีพื้นฐานอ้างอิงสภาพ ระบบ OFDR ของ Luna สามารถบรรลุ+/-1.6με ความละเอียดกว่า 1.5 มม. [1] และดีกว่า 50m/จุด พื้นที่ละเอียด [2] โทโพโลยี OFDR ที่แสดงในรูปที่ 4 เป็นข้อมูลพื้นฐานสำหรับเทคโนโลยีหลักของลูน่า interrogator เครือข่ายออปติคอล OBRTM และ ODiSITM กระจายไร้สายระบบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เทคนิคพื้นหลังความถี่ออฟติคอล Reflectometry โดเมน (OFDR) รูปร่างของลูน่าและเทคโนโลยีการตรวจจับตำแหน่งที่อยู่บนพื้นฐานของ Reflectometry โดเมนความถี่แสง (OFDR) การใช้โครงสร้างเครือข่ายพื้นฐานที่แสดงในรูปที่ 4 OFDR มีวิธีการวัดค่าความเครียดกระจายไปตามใยแก้วนำแสงที่มีความละเอียดสูงมาก โดยใช้สถานะของศิลปะเทคนิคในการติดตามเฟสเพื่อเปรียบเทียบเรย์ลีวัดกระจายกับรัฐอ้างอิงพื้นฐานระบบ OFDR ลูน่าสามารถบรรลุ +/- 1.6μεความละเอียดมากกว่า 1.5 มม [1] และดีกว่า50m / จุดความละเอียดเชิงพื้นที่ [2] โทโพโลยี OFDR แสดงในรูปที่ 4 เป็นพื้นฐานสำหรับจำนวนของเทคโนโลยีหลักของลูน่ารวมทั้งสอบปากคำเครือข่ายแสง OBRTM และ ODiSITM กระจายระบบการตรวจจับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พื้นหลังทางเทคนิค
แสงความถี่โดเมน reflectometry ( ofdr )
ลูน่าและรูปร่าง เทคโนโลยีตรวจจับตำแหน่งจะขึ้นอยู่กับโดเมน reflectometry แสงความถี่ ( ofdr ) ใช้เครือข่ายแบบพื้นฐานที่แสดงในรูปที่ 4 ofdr มีวิธีการวัดความเครียดกระจายไปตามเส้นใยแสงที่มีความละเอียดสูงมากใช้รัฐ - of - the - art ระยะติดตามเทคนิคเปรียบเทียบกับเส้นอ้างอิงการวัดกระจาย เรย์ลี่ สภาพ ระบบ ofdr ลูน่าสามารถบรรลุ / ความละเอียดกว่า 1.5 - 1.6 με [ 1 ] และกว่า 50 เมตร / จุดความละเอียดเชิงพื้นที่ [ 2 ] การ ofdr โครงสร้างที่แสดงในรูปที่ 4 เป็นพื้นฐานสำหรับจำนวนของเทคโนโลยีหลักของลูน่าได้รวมทั้ง obrtm เครือข่ายและระบบการกระจายแสง ที่ถาม odisitm ตรวจจับ .