energy resolution (around 10 eV) is

energy resolution (around 10 eV) is sufficient. Another method is to determine the chemical shifts of the characteristic X-Ray
emission lines and the changes of their lineshapes but in this case a higher energy resolution (below 1 eV) is required. Gohshi
and co-workers (Gohshi Y., Ohtsuka A., 1973; Gohshi Y., Hirao O., Suzuk I., 1975) were the first to report quantitative
chemical state analysis of S, Cr and Sn based on the energy shifts of the characteristic X-Ray emission lines. Kav

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความละเอียดของพลังงาน (ประมาณ 10 eV) เพียงพอ วิธีหนึ่งคือการ กำหนดกะเคมีของลักษณะเอ็กซ์เรย์รายการมลพิษและการเปลี่ยนแปลง ของ lineshapes ของพวกเขา แต่ ในกรณีนี้ความละเอียดของพลังงานสูงกว่า (ต่ำกว่า 1 eV) จะต้อง Gohshiและเพื่อนร่วมงาน (Gohshi Y., A. Ohtsuka, 1973 Gohshi Y. โอ Hirao, Suzuk I., 1975) ได้ก่อนรายงานเชิงปริมาณวิเคราะห์เคมีสถานะของ S, Cr และ Sn ตามพลังงานกะมลพิษบรรทัดลักษณะการเอ็กซ์เรย์ Kav