XRay diffraction patterns of the po

XRay diffraction patterns of the powder samples were measured by a Bruker AXS D8 Advanced SWAX diffractometer using Cu Kα (λ=0.15406 nm) radiation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เอ็กซ์เรย์รูปแบบกระจายตัวอย่างผงถูกวัด โดยเครื่อง diffractometer Bruker AXS D8 ขั้นสูง SWAX ใช้ Cu Kα (λ = 0.15406 nm) รังสี

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

XRay รูปแบบการเลี้ยวเบนของตัวอย่างผงถูกวัดโดย diffractometer Bruker AXS D8 ขั้นสูง SWAX ใช้ Cu Kα (λ = 0.15406 NM) รังสี

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

Xray รูปแบบการเลี้ยวเบนของผงจำนวน วัดโดย BRUKER ขวาน d8 ขั้นสูง swax ดิฟแฟรกโทมิเตอร์โดยใช้ Cu K α ( λ = 0.15406 nm ) รังสี