Density of the sample was determine

Density of the sample was determined by the Archimed method (ASTM C373). Polished and plasma etched (70%CF4-30%O2) sintered SiC samples were observed using scanning electron microscopy (SEM,LEO 438-VP). X-ray diffraction (XRD) analysis was used to determine the qualitative composition in terms of crystalline phases of the sintered samples. X-ray patterns were collected with a Philips powder diffractometer with a Bragg-Brentano geometry and equipped with a copper anode operated at 40 kV and 30 mA (step 0.02 , time 6 s). The phase analysis was carried oyt with the PC x'pert High Score software Veesion 2.2a (PANalytical B.V., Almelo, the Netherlands).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มีกำหนดความหนาแน่นของตัวอย่าง โดยวิธี Archimed (ASTM C373) ขัด และ SiC ตัวอย่างถูกตั้งข้อสังเกตโดยใช้การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM ลีโอ 438-VP) เผาพลาสลัก (70% O2 CF4 - 30%) วิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD) ถูกใช้เพื่อระบุองค์ประกอบเชิงคุณภาพในแง่ของระยะของผลึกตัวอย่างเผา รูปแบบ X-ray ถูกรวบรวมไว้กับเครื่อง diffractometer ผง Philips กับเรขาคณิต Brentano แบรก และพร้อมกับขั้วบวกทองแดงงานที่ 40 kV และ 30 mA (0.02 ขั้นตอน เวลา 6 s) ขั้นตอนการวิเคราะห์ถูกดำเนิน oyt x'pert พีซีซอฟต์แวร์คะแนนสูง Veesion 2.2a (PANalytical B.V., Almelo เนเธอร์แลนด์)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความหนาแน่นของกลุ่มตัวอย่างถูกกำหนดโดยวิธี Archimed (ASTM C373) ขัดและพลาสม่าแกะสลัก (70% CF4-30% O2) ตัวอย่าง SiC เผาถูกตั้งข้อสังเกตโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM, LEO 438-VP) X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) การวิเคราะห์ถูกใช้ในการกำหนดองค์ประกอบคุณภาพในแง่ของขั้นตอนผลึกของสารตัวอย่าง รูปแบบ X-ray ที่ถูกเก็บรวบรวมด้วย diffractometer ผงฟิลิปส์ที่มีรูปทรงเรขาคณิต Bragg-Brentano และพร้อมกับขั้วบวกทองแดงดำเนินการใน 40 kV และ 30 mA (ขั้นตอนที่ 0.02, เวลา 6 s) การวิเคราะห์ขั้นตอนได้ดำเนินการ oyt กับเครื่องคอมพิวเตอร์ x'pert คะแนนสูงซอฟต์แวร์ Veesion 2.2 ก (PANalytical BV, Almelo, เนเธอร์แลนด์)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความหนาแน่นของตัวอย่างที่ถูกกำหนดโดยวิธีการ archimed ( ASTM c373 ) ขัดและพลาสมาแกะสลัก ( 70% cf4-30 % O2 ) ผง SiC ตัวอย่าง พบว่ามีการใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM , ลีโอ 438-vp ) เครื่อง X-ray diffraction ( XRD ) การวิเคราะห์ศึกษาองค์ประกอบเชิงคุณภาพในแง่ของเฟสของผงผลึกตัวอย่าง รูปแบบการเก็บรวบรวมรังสีกับดิฟแฟรกโทมิเตอร์ฟิลิปส์ผงกับแบร็กโนเรขาคณิตและอุปกรณ์ที่มีทองแดงแอโนดดำเนินการ 40 กิโล 30 MA ( ขั้นตอน 0.02 , เวลา 6 วินาที ) ขั้นตอนการวิเคราะห์การ oyt กับ PC x"pert คะแนนสูงซอฟต์แวร์ veesion 2.2a ( panalytical เท่า อัลเมโล เนเธอร์แลนด์ )