2.10. Thickness measurementsFilm th

2.10. Thickness measurements
Film thickness was measured with an electronic micrometer
(QLR digit-IP54, China). Measurements were taken at the center
of the film and at four positions around the perimeter for the
WVP and at eight positions along the rectangular strips for the
mechanical properties. The mean measurements were used to calculate
the barrier properties of the film.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.10 ความหนาวัดความหนาฟิล์มถูกวัด ด้วยไมโครมิเตอร์เป็นอิเล็กทรอนิกส์(QLR หลัก-IP54 จีน) วัดที่ถ่ายที่ศูนย์ของฟิล์ม และ ที่ตำแหน่งสี่รอบขอบเขตในการWVP และ ที่ตำแหน่ง 8 ตามแถบสี่เหลี่ยมสำหรับการคุณสมบัติทางกล การวัดหมายถึงใช้ในการคำนวณคุณสมบัติอุปสรรคของฟิล์ม

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.10
การวัดความหนาความหนาของฟิล์มถูกวัดด้วยไมโครเมตรอิเล็กทรอนิกส์
(QLR หลัก-IP54, จีน)
วัดถูกนำมาที่ศูนย์ของภาพยนตร์และในตำแหน่งที่สี่รอบปริมณฑลสำหรับที่
WVP
และแปดตำแหน่งพร้อมแถบสี่เหลี่ยมสำหรับคุณสมบัติทางกล
หมายถึงวัดที่ถูกนำมาใช้ในการคำนวณคุณสมบัติอุปสรรคของภาพยนตร์เรื่องนี้