The morphology of samples was obser

The morphology of samples was observed using scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัณฐานวิทยาของตัวอย่างที่ถูกตรวจสอบโดยใช้ microscopy อิเล็กตรอนสแกน (SEM) และ microscopy แรงอะตอม (AFM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สัณฐานวิทยาของกลุ่มตัวอย่างที่เป็นที่สังเกตโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สัณฐานวิทยาของตัวอย่าง พบว่า การใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM )