Powder X-ray diffraction (XRD) anal

Powder X-ray diffraction (XRD) analysis of the samples was carried out on a diffractometer (D8 Advanced, Bruker AXS, Germany) with Cu K˛ radiation ( = 0.154178 nm) at a scanning rate of 0.02◦/s in the 2 range from 5◦ to 70◦. The microstructure of the products was observed with a field emission scanning electron microscopy (FESEM, SU8010, Hitachi, Japan), equipped with energy dispersive spectroscopy (EDS). UV–vis absorbance spectra were measured on a spectrophotometer (UV-2550, Shimadzu, Japan).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD) ผงตัวอย่างดำเนินการบน diffractometer (D8 ขั้นสูง Bruker AXS เยอรมนี) กับรังสี Cu K˛ (= 0.154178 nm) ในอัตราการสแกน 0.02◦ / s ในช่วง 2 จาก 5◦ เพื่อ 70◦ โครงสร้างจุลภาคของผลิตภัณฑ์พบว่า มีการปล่อยที่การสแกนชาวดัตช์ (FESEM, SU8010 ฮิตาชิ ญี่ปุ่น), พร้อมกับพลังงาน dispersive สเปกโทรสโก (EDS) UV – vis ค่ามุมที่วัดในสเปค (UV-2550, Shimadzu ญี่ปุ่น)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ผง X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) การวิเคราะห์ตัวอย่างได้ดำเนินการใน diffractometer (D8 ขั้นสูง Bruker AXS, เยอรมนี) กับ Cu K รังสี (? = 0.154178 นาโนเมตร) ในอัตราที่สแกน0.02◦ / S ใน 2 ? ช่วงจาก5◦เพื่อ70◦ จุลภาคของผลิตภัณฑ์ที่ได้รับการตั้งข้อสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์ข้อมูลการปล่อยอิเล็กตรอนสแกน (FESEM, SU8010, ฮิตาชิ, ญี​​่ปุ่น) พร้อมกับกระจายพลังงานสเปกโทรสโก (EDS) UV-Vis การดูดกลืนแสงสเปกตรัมถูกวัดในสเปก (UV-2550, Shimadzu, ญี่ปุ่น)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ผงการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์วิเคราะห์ตัวอย่างได้ดำเนินการในดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( d8 ขั้นสูง BRUKER ขวาน , เยอรมนี ) ที่มี Cu K ˛รังสี ( = 0.154178 nm ) ที่อัตราการสแกนของ 0.02 ◦ / s ใน 2 ช่วงจาก 5 ◦ 70 ◦ . โครงสร้างจุลภาคของผลิตภัณฑ์ พบว่า มีการปล่อยข้อมูลกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( fesem su8010 , Hitachi , ญี่ปุ่น ) พร้อมกับพลังงานกระจายตัวสเปกโทรสโกปี ( EDS ) UV Vis ดูดกลืนสเปกตรัม และวัดบนเครื่อง ( uv-2550 Shimadzu , ญี่ปุ่น )