4.3. Results of X-ray diffraction c

4.3. Results of X-ray diffraction characterization
X-ray diffraction patterns are obtained using Rigaku X-ray diffractometer with CuK radiation ( = 1.5406A˚ ) with 2 ranging from 10◦ to 80◦. Indexing of planes is done and the peaks are compared with the standard JCPDS (Joint Committee Powder Diffraction
Standards) values. Figs. 9 and 10 show the X-ray diffraction patterns of the base
metal and weld region, respectively. The line broadening of the diffraction peaks arises due to the particle size and strain present inside material. The X-ray diffraction spectra provide information on the crystal phase in the base metal. The tallest peak contains chromium silicate
in a cubical phase. Similarly the other peaks constitute either
hexagonal phase silicon carbide or cubical phase chromium silicate.
There are a few irregularities with no defined peaks indicating the
existence of impurity phases. A good crystalline nature is observed
in the base metal.
Similarly, the X-ray diffraction spectra (Fig. 5.39) provide information
on crystal phase in the weld region. The tallest peak contains

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

4.3. ผลการเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์คุณสมบัติรูปแบบการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์จะได้รับใช้ diffractometer เอ็กซ์เรย์ Rigaku (= 1.5406A˚) รังสี CuK 2 ตั้งแต่ 10◦ ถึง 80◦ การทำดัชนีของเครื่องบินเสร็จ และแห่งมีการเปรียบเทียบกับการมาตรฐาน JCPDS (ร่วมกรรมการผงการเลี้ยวเบนค่ามาตรฐาน) Figs. 9 และ 10 แสดงรูปแบบการเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์ของฐานโลหะ และเชื่อมภูมิภาค ตามลำดับ Broadening บรรทัดของแห่งการเลี้ยวเบนเกิดขึ้นเนื่องจากขนาดอนุภาคและต้องใช้อยู่ภายในวัสดุ แรมสเป็คตราเอกซเรย์การเลี้ยวเบนให้ข้อมูลเกี่ยวกับขั้นตอนของผลึกในโลหะฐาน ยอดสูงที่สุดประกอบด้วยซิลิเกโครเมียมในระยะ cubical ในทำนองเดียวกัน แห่งอื่น ๆ ประกอบอย่างใดอย่างหนึ่งระยะหกเหลี่ยมไฮไดรด์ซิลิคอนหรือซิลิเกโครเมียม cubical ระยะมีความผิดปกติไม่ มียอดไม่กำหนดที่ระบุในมีมลทินระยะ สังเกตลักษณะผลึกดีในโลหะฐานในทำนองเดียวกัน แรมสเป็คตราเอกซเรย์การเลี้ยวเบน (Fig. 5.39) ให้ข้อมูลในระยะคริสตัลในภูมิภาคเชื่อม ประกอบด้วยยอดสูงที่สุด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

4.3. Results of X-ray diffraction characterization
X-ray diffraction patterns are obtained using Rigaku X-ray diffractometer with CuK radiation ( = 1.5406A˚ ) with 2 ranging from 10◦ to 80◦. Indexing of planes is done and the peaks are compared with the standard JCPDS (Joint Committee Powder Diffraction
Standards) values. Figs. 9 and 10 show the X-ray diffraction patterns of the base
เชื่อมโลหะ และ ภูมิภาค ตามลำดับ บรรทัดใหม่ของการเลี้ยวเบนยอดเกิดขึ้นเนื่องจากขนาดและสายพันธุ์ ปัจจุบันภายในวัสดุ การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์นี้ให้ข้อมูลเกี่ยวกับคริสตัลเฟสในฐานโลหะ ยอดเขาที่สูงที่สุด ประกอบด้วยโครเมียมซิลิเกต
ในเฟสลูกบาศก์ . เหมือนกับยอดอื่น ๆเป็นเหมือนกัน
คาร์ไบด์ซิลิกอนเฟสหกเหลี่ยมหรือเหลี่ยมลูกบาศก์เฟสโครเมียมซิลิเกต
มีกี่ความผิดปกติไม่มีกำหนดยอดแสดง
การดำรงอยู่ของระยะที่บริสุทธิ์ ดีผลึกธรรมชาติ คือ พบในฐานโลหะ
.
ส่วนการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์สเปกตรัม ( รูปที่ 5.10 ) ให้ข้อมูลเกี่ยวกับคริสตัล
ระยะเชื่อมภูมิภาค ยอดเขาที่สูงที่สุด ประกอบด้วย