tightening unit that comes with the

tightening unit that comes with the instrument was used toensure the maximum contact between crystal and the sample. FTIRspectra were recorded between 4000 cm−1and 600 cm−1with theresolution of 4 cm−1in the absorbance mode for 128 scans at roomtemperature.X-ray diffraction (XRD) measurements were carried out using(Brucker D8 Focus X-ray Diffractometer) Cu-K radiation emittedfrom X-ray tube operated at 30 kV and 25 mA. Samples were driedfor 2 h at 60◦C for removal of any excess moisture and diffractionpatterns were recorded at room temperature.Thermogravimetric analysis (TGA) was performed for finelygrounded chitin flakes, chitosan flakes, chitin NFs and chitosan NFsand chitosan NPs mixture using Q-600 TGA from TA-Instruments.Approximately 9–10 mg of the sample was placed inside the alu-mina pan and heated from 30◦C to 700◦C at a heating rate of20◦C/min under a N2 purge of 100 ml/min.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

หน่วยขันที่มาพร้อมกับเครื่องมือที่ใช้ toensure ติดต่อสูงสุดระหว่างคริสตัลและตัวอย่าง FTIRspectra ถูกบันทึกโหมด absorbance สำหรับสแกน 128 ที่ roomtemperature ระหว่าง 4000 cm−1and 600 cm−1with theresolution ของ 4 cm−1in วัดการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ได้ดำเนินการใช้ (Brucker D8 มาเอ็กซ์เรย์ Diffractometer) Cu K รังสี emittedfrom เอ็กซ์เรย์หลอดหยอดที่ 30 kV และ 25 mA ตัวอย่าง driedfor h 2 ที่ 60◦C สำหรับการกำจัดความชื้นส่วนเกินใด ๆ และ diffractionpatterns ได้บันทึกไว้ที่อุณหภูมิห้อง ทำการวิเคราะห์ Thermogravimetric (TGA) สำหรับ finelygrounded ไคทิน flakes ไคโตซาน flakes, NFs ไคทิน และไคโตซานไคโตซานผสมระหว่าง NPs ใช้ Q-600 TGA จาก TA-Instruments.Approximately 9 – 10 mg ของตัวอย่างวางอยู่ภายในเสริมอะลูมิเนียม-mina NFsand แพน และความร้อนจาก 30◦C เพื่อ 700◦C ที่ให้ความร้อนราคา of20◦C/นาที ภายใต้การล้างข้อมูล N2 100 มล/นาที

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กระชับหน่วยที่มาพร้อมกับเครื่องมือที่ใช้ในการติดต่อ toensure สูงสุดระหว่างคริสตัลและตัวอย่าง FTIRspectra ถูกบันทึกไว้ระหว่าง 4000 ซม 1 และ 600 ซม 1with theresolution 4 ซม 1in โหมดการดูดกลืนแสงสำหรับ 128 สแกนเลนส์ roomtemperature.X-ray (XRD) วัดได้ดำเนินการโดยใช้ (Brucker D8 โฟกัส X-ray diffractometer) Cu- K? รังสี emittedfrom หลอด X-ray ดำเนินการวันที่ 30 กิโลโวลต์และ 25 มิลลิแอมป์ กลุ่มตัวอย่างเป็น driedfor 2 ชั่วโมงที่60◦Cสำหรับการกำจัดของความชื้นส่วนเกินใด ๆ และ diffractionpatterns ถูกบันทึกไว้ที่ห้องวิเคราะห์ temperature.Thermogr​​avimetric (TGA) ได้ดำเนินการสำหรับเกล็ดไคติน finelygrounded เกล็ดไคโตซานไคตินไคโตซานและ NFS NFsand ไคโตซานที่มีส่วนผสมของกรมอุทยานฯ ใช้ Q-600 TGA จาก TA-Instruments.Approximately 9-10 มก. ของกลุ่มตัวอย่างที่ได้รับการวางอยู่ภายในกระทะ Alu-มินาและให้ความร้อนจาก30◦Cจะ700◦Cที่ร้อนอัตราof20◦C / นาทีภายใต้การล้าง N2 100 มล. / นาที .

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กระชับหน่วยที่มาพร้อมกับเครื่องมือที่ใช้ติดต่อระหว่างคริสตัลที่มีสูงสุด และตัวอย่าง ftirspectra ถูกบันทึกไว้ระหว่าง 4000 cm −−และ 600 ซม. 1with มติ 4 cm − 1in โหมดน 128 สแกนที่อุณหภูมิห้อง .การวัดการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ได้ทดลองใช้ ( เน้นเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ brucker d8 ) cu-k  รังสีเอกซเรย์หลอด emittedfrom ดำเนินการ 30 kV และ MA 25 จำนวน driedfor 2 H ที่ 60 ◦ C สำหรับการกำจัดความชื้นส่วนเกินใด ๆและ diffractionpatterns ถูกบันทึกไว้ที่อุณหภูมิห้อง การวิเคราะห์เทอร์โมกราวิเมตริก ( TGA ) คือการใช้เกล็ดไคโตซาน ไคติน finelygrounded เกล็ด ,NFS ปริมาณไคโตซานผสม nfsand โดยใช้ q-600 TGA จาก ta-instruments.approximately 9 – 10 mg ของกลุ่มตัวอย่างอยู่ในกระทะและความร้อนจาก Alu MIN 30 ◦ C 700 ◦ C ที่อัตราความร้อน of20 ◦องศาเซลเซียส / นาทีภายใต้การกวาดล้าง N2 100 มิลลิลิตร / นาที