The scanning electron microscope (SEM) samples were prepared as described by Sastry et al. [23] and analyzed with a Hitachi SU1510 Natural Scanning Electron Microscope.
โดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) จำนวนที่เตรียมไว้ตามที่อธิบายไว้โดย sastry et al . [ 23 ] และวิเคราะห์กับบริษัท ฮิตาชิsu1510 ธรรมชาติกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน