The authors gratefully acknowledge

The authors gratefully acknowledge Sophisticated Analytical
Instrument Facility (SAIF), and IIT-Bombay central facility
(XRD, Zeta potential, ICP-AES, and FEG-TEM) for the characterization
studies. This study was partially funded by Nanomission,
DST, Govt. of India

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ผู้เขียนรู้สึกขอบคุณรับทราบวิเคราะห์ซับซ้อนเครื่องมือสิ่งอำนวยความสะดวก (ซัยฟุดดีน), และบอมเบย์ IIT สินเชื่อเซ็นทรัล(XRD ซีตาศักยภาพ ICP AES และ FEG TEM) สำหรับการจำแนกลักษณะการศึกษา การศึกษานี้บางส่วนได้รับการสนับสนุน NanomissionDST, govt.ของอินเดีย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ผู้เขียนรู้สึกขอบคุณรับทราบอย่างพิถีพิถันวิเคราะห์
ตราสารสิ่งอำนวยความสะดวก (SAIF) และห้องไอไอทีบอมเบย์กลาง
(XRD ศักยภาพซีตา ICP-AES และ FEG-TEM) สำหรับตัวละคร
การศึกษา การศึกษาครั้งนี้ได้รับการสนับสนุนบางส่วนจาก Nanomission,
DST คั่ก ของประเทศอินเดีย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ผู้เขียนมีความยินดียอมรับความซับซ้อนเชิงวิเคราะห์โรงงานตราสาร ( Saif ) และ IIT บอมเบย์กลางสิ่งอำนวยความสะดวก( XRD , ซีตาศักยภาพ เทคนิค และ feg-tem ) สำหรับคุณลักษณะศึกษา งานวิจัยนี้ได้รับทุนสนับสนุนบางส่วนจาก nanomission ,เวลา Govt . ของอินเดีย