The amout and scale of the informat

The amout and scale of the information which can be extracted by TEM depends critically on four parameters; the resolving power of the microscope (usually smaller than 0.3 nm); the energy spread of the electron beam (often several eV); the thickness of the specimen (almost always significantly less than 1 um), and ; the composition and stability of the specimen.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Amout และขนาดของข้อมูลที่สามารถถูกแยก โดยยการเหลือขึ้นอยู่กับพารามิเตอร์ที่สี่ อำนาจ resolving ของกล้องจุลทรรศน์ (มักจะมีขนาดเล็กกว่า 0.3 nm); การแพร่กระจายพลังงานของลำแสงอิเล็กตรอน (มักหลาย eV); ความหนาของ (เกือบจะมากน้อยกว่า 1 อุ่ม), และ องค์ประกอบและความมั่นคงของการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

amout และขนาดของข้อมูลที่สามารถนำมาสกัดโดย TEM ขึ้นอยู่กับวิกฤตสี่พารามิเตอร์; อำนาจการแก้ไขกล้องจุลทรรศน์ (โดยปกติจะมีขนาดเล็กกว่า 0.3 นาโนเมตร); การแพร่กระจายของพลังงานลำแสงอิเล็กตรอน (มักหลาย eV); ความหนาของชิ้นงาน (ที่มักจะมีนัยสำคัญน้อยกว่า 1 ไมครอน) และ; องค์ประกอบและความมั่นคงของชิ้นงาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

แต่ละระดับของข้อมูลซึ่งสามารถสกัดได้โดยขึ้นอยู่กับวิกฤตแบบสี่ตัวแปร ; การแก้ไขอำนาจของกล้องจุลทรรศน์ ( มักจะมีขนาดเล็กกว่า 0.3 nm ) ; พลังงานกระจายของลำแสงอิเล็กตรอน ( มักหลาย EV ) ; ความหนาของชิ้นงาน ( มักจะน้อยกว่า 1 . ) และ ; องค์ประกอบและความเสถียรของตัวอย่าง