basically consists of fitting a lar

basically consists of fitting a large portion of the experimental X-ray diffraction pattern with analytical functions to the describe the profiles whose intensity is directly related structure of each studied phase [16]

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โดยทั่วไปประกอบด้วยส่วนใหญ่ของรูปแบบการเลี้ยวเบนเอกซเรย์ทดลองกับฟังก์ชันวิเคราะห์การ describe เหมาะสมค่าความเข้มที่เป็นโครงสร้างที่เกี่ยวข้องโดยตรงของแต่ละเฟส studied [16]

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โดยทั่วไปประกอบด้วยกระชับส่วนใหญ่ของรูปแบบ X-ray diffraction ทดลองกับฟังก์ชั่นการวิเคราะห์เพื่ออธิบายรูปแบบที่มีความเข้มเป็นโครงสร้างที่เกี่ยวข้องโดยตรงของแต่ละขั้นตอนการศึกษา [16]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

จะประกอบด้วยข้อต่อส่วนใหญ่ของทดลองการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์แบบฟังก์ชันวิเคราะห์เพื่ออธิบายโปรไฟล์ที่มีความเข้มจะเกี่ยวข้องโดยตรงกับการศึกษาโครงสร้างของแต่ละเฟส [ 16 ]