By using profilometry combined with

By using profilometry combined with low vacuum scanning electron microscopy (LV SEM) the surface microstructure development could be monitored.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โดย profilometry ร่วมกับต่ำดูดแกนอิเล็กตรอน microscopy (LV SEM) พัฒนาต่อโครงสร้างจุลภาคที่ผิวที่สามารถตรวจสอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โดยใช้ profilometry ร่​​วมกับสูญญากาศต่ำสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (LV SEM) การพัฒนาโครงสร้างพื้นผิวจะได้รับการตรวจสอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โดยใช้ profilometry ต่ำสุญญากาศร่วมกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด ( LV SEM ) พื้นผิวโครงสร้างการพัฒนา สามารถตรวจสอบได้