The chemicalcomposition in the dept

The chemical
composition in the depth and the thickness of the oxide layer have been determined by XPS sputter profiles. The oxide film can be
described within the framework of a double layer consisting of a thin outer hydrated layer and an inner layer of Cr2O3

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สารเคมีองค์ประกอบในความลึกและความหนาของชั้นออกไซด์ที่ได้ถูกกำหนด โดยโพรไฟล์ sputter XPS ฟิล์มออกไซด์สามารถอธิบายภายใต้กรอบสองชั้นประกอบด้วยชั้นนอกผลิตภัณฑ์บางและเป็นชั้นในของ Cr2O3

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สารเคมีองค์ประกอบในเชิงลึกและความหนาของชั้นออกไซด์ที่ได้รับการกำหนดโดย XPS ปะทุโปรไฟล์
ฟิล์มออกไซด์ที่สามารถอธิบายในกรอบของสองชั้นประกอบด้วยชั้นบาง ๆ ไฮเดรทด้านนอกและชั้นในของ Cr2O3

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สารเคมี
องค์ประกอบในความลึกและความหนาของชั้นออกไซด์ได้ถูกกำหนดโดย XPS ละล่ำละลักโปรไฟล์ ฟิล์มออกไซด์สามารถ
อธิบายในกรอบสองชั้นประกอบด้วยบางด้านนอก hydrated และ Cr2O3 ชั้นในของชั้น