P. Kalpana and K. Gunavathi, “Fault

P. Kalpana and K. Gunavathi, “Fault oriented Test Pattern Generator for
Digital to Analog converters,” Acad. Open Internet Jrnl, Vol. 13, 2004.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

P. Kalpana และคุณ Gunavathi "มุ่งเน้นข้อบกพร่องกำเนิดรูปแบบทดสอบการแปลงแอนะล็อก ดิจิตอล" Acad. เปิดอินเทอร์เน็ต Jrnl ปี 13, 2004

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พี Kalpana และเค Gunavathi,
"การทดสอบความผิดพลาดที่มุ่งเน้นการสร้างรูปแบบสำหรับแปลงอนาล็อกเป็นดิจิตอล" Acad เปิด Internet Jrnl ฉบับ 13, 2004

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

หน้า kalpana และ K . gunavathi " ความผิดที่มุ่งเน้นการทดสอบเครื่องกำเนิดไฟฟ้าแบบดิจิตอลเพื่อแปลงอนาล็อก
" , . เปิดอินเทอร์เน็ต jrnl ฉบับที่ 13 , 2004