Doung and Wang provided a process w

Doung and Wang provided a process which iteratively searches for the first design that meets the criteria, since the results will be different depending on the rout that the
searching process has taken and it does not necessarily secure the optimal design [2]. While in the first step of the method criteria for cracked skin, patch and adhesive are defined, in the second step patches and adhesives materials are selected,and finally, an iterative process which meets the criteria is performed to find a design. Designed repaired will be subjected to mechanical or thermo mechanical loads to determine patch dimensions/size.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ดวงและวังให้เป็นกระบวนการที่ค้นหาการออกแบบครั้งแรกที่ตรงตามเงื่อนไข ตั้งแต่ผลลัพธ์จะแตกต่างแม้กระทั่งการ ปรับปรุงต้น ที่การกระบวนการค้นหาได้ และมันไม่จำเป็นต้องรักษาความปลอดภัยการออกแบบที่ดีที่สุด [2] ในขั้นตอนแรกของเกณฑ์วิธีสำหรับส้นเท้าแตก แพทช์และกาวถูกกำหนด ในสองขั้นตอนแพทช์และกาวเลือกวัสดุ และในที่สุด การดำเนินการกระบวนการซ้ำที่ตรงตามเงื่อนไขการค้นหาออกแบบ ออกแบบซ่อมแซมจะต้องการเครื่องกลหรือเทอร์โมทางกลเพื่อตรวจสอบโปรแกรมแก้ไขมิติ/ขนาด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

Doung และวังจัดให้มีกระบวนการที่ซ้ำค้นหาสำหรับการออกแบบครั้งแรกที่ตรงกับเกณฑ์ตั้งแต่ผลจะแตกต่างกันขึ้นอยู่กับความพ่ายแพ้ที่มี
กระบวนการค้นหาได้ดำเนินการและมันไม่จำเป็นต้องรักษาความปลอดภัยการออกแบบที่ดีที่สุด [2] ขณะที่อยู่ในขั้นตอนแรกของเกณฑ์วิธีการสำหรับผิวแตก, แพทช์และกาวมีการกำหนดไว้ในขั้นตอนที่สองแพทช์และกาววัสดุที่ได้รับการคัดเลือกและสุดท้ายกระบวนการซ้ำซึ่งตรงกับเกณฑ์ที่จะดำเนินการเพื่อหาการออกแบบ การออกแบบการซ่อมแซมจะต้องอยู่ภายใต้กลหรือความร้อนแรงโหลดทางกลในการกำหนดขนาดของแพทช์ / ขนาด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ดวงและหวังให้กระบวนการที่ซ้ำค้นหาครั้งแรกในการออกแบบที่ตรงกับเกณฑ์ เนื่องจากผลจะแตกต่างกันขึ้นอยู่กับเส้นทางที่กระบวนการค้นหาได้ และไม่ต้องการการออกแบบที่เหมาะสม [ 2 ] ในขณะที่ในขั้นตอนแรกของวิธีการเกณฑ์สำหรับผิวแตก แพทช์ และกาวที่กำหนดในขั้นตอนที่ 2 แพทช์และกาวเป็นวัสดุที่เลือกและในที่สุดการของกระบวนการซึ่งตรงกับเกณฑ์การค้นหาการออกแบบ ออกแบบซ่อมแซมจะอยู่ภายใต้กลหรือเทอร์โมเครื่องกลโหลดเพื่อศึกษามิติขนาด / Patch