X-ray diffraction measurements (XRD

X-ray diffraction measurements (XRD)
confirmed that both un-doped and Al-doped ZnO films are polycrystalline and have hexagonal wurtzite structure.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วัดการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD)ยืนยันว่า ฟิล์ม ZnO ยัง doped และอัล doped ค และมีโครงสร้างหกเหลี่ยม wurtzite

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วัด X-ray diffraction (XRD)
ได้รับการยืนยันว่าทั้งสองยกเลิกการเจือและอัลเจือฟิล์มซิงค์ออกไซด์เป็นผลึกและมีโครงสร้าง wurtzite หกเหลี่ยม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวัดการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ ( XRD )
ยืนยันว่าทั้ง UN และอัลเจือด้วยเช่นกันและมีโครงสร้าง wurtzite ฟิล์มเป็นรูปผลึกหกเหลี่ยม