2.4.6. Scanning electron microscopy

2.4.6. Scanning electron microscopy (SEM)
SEM imaging of the Upsalite was performed with a Leo 1550
FEG microscope (Zeiss, Oberkochen, Germany) equipped with an
in-lens detector. A thin gold/palladium layer was sputtered onto
samples prior to analysis to avoid charging of the samples. The
analysis was performed at 1.5 kV acceleration voltage

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.4.6 การการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)ภาพ SEM ของ Upsalite การดำเนินการกับ 1550 ลีโอFEG กล้องจุลทรรศน์ (Zeiss, Oberkochen เยอรมนี) พร้อมกับการหัวตรวจวัดในเลนส์ ทองบาง/พาลาเดียมชั้นถูก sputtered ลงตัวอย่างก่อนการวิเคราะห์เพื่อหลีกเลี่ยงการชาร์จตัวอย่าง การทำการวิเคราะห์ที่ 1.5 kV เร่งดัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.4.6 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)
การถ่ายภาพ SEM ของ Upsalite ได้ดำเนินการกับลีโอ 1550
FEG กล้องจุลทรรศน์ (Zeiss, Oberkochen เยอรมนี) พร้อมกับ
เครื่องตรวจจับเลนส์ ชั้นทอง / แพลเลเดียมบางถูกพ่นลงบน
ตัวอย่างก่อนที่จะมีการวิเคราะห์เพื่อหลีกเลี่ยงการชาร์จของกลุ่มตัวอย่าง
วิเคราะห์ได้ดำเนินการเร่งที่แรงดันไฟฟ้า 1.5 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.4.6 . กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )ภาพ SEM ของ upsalite แสดงกับลีโอ 1550กล้องจุลทรรศน์ oberkochen FEG , Germany ) พร้อมกับในเครื่องตรวจจับเลนส์ ชั้นทอง / แพลเลเดียมบางคือ sputtered บนตัวอย่างก่อนเพื่อหลีกเลี่ยงการเรียกเก็บเงินของการวิเคราะห์ตัวอย่าง ที่การวิเคราะห์ 1.5 KV แรงดัน ความเร่ง