The MgO thin films were characteriz

The MgO thin films were characterized by X-ray diffraction (XRD), field emission
scanning electron microscopy (FE-SEM), transmission electron microscopy (TEM), and the related energy dispersive X-ray spectroscopy
(EDAX) techniques.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ฟิล์มบางของ MgO มีลักษณะกระจายแสงเอ็กซเรย์ (XRD), ปล่อยฟิลด์การสแกนอิเล็กตรอน (FE SEM), การส่งอิเล็กตรอน (TEM), และมิกซเรย์ dispersive ของพลังงานที่เกี่ยวข้องเทคนิค (EDAX)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ภาพยนตร์บาง MgO โดดเด่นด้วย X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) ข้อมูลการปล่อยก๊าซ
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FE-SEM) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) และสเปคโทรพลังงานกระจาย X-ray
(EDAX) เทคนิค