SIMS depth profiles were made using

SIMS depth profiles were made using a ToF-SIMS 5 (IONTOF GmbH, Münster, Germany)time-of-flight secondary ion mass spectrometer.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ทำโปรไฟล์ลึกซิมส์ใช้เป็น 5 ซิมส์ ToF (IONTOF GmbH ซเตอร์ เยอรมนี) เวลาของเที่ยวบินรองไอออนมวลสเปกโตรมิเตอร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

SIMS โปรไฟล์ลึกที่ถูกสร้างขึ้นโดยใช้ ToF-SIMS 5 (IONTOF GmbH, มอนสเตอร์เยอรมนี) เวลาของเที่ยวบินไอออนรองสเปกโตรมิเตอร์มวล

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ซิมส์ความลึกโปรไฟล์ได้โดยใช้ tof ซิมส์ 3 ( iontof GmbH , M ü nster , เยอรมนี ) เวลา - การบินรองไอออนมวลสารสเปกโตรมิเตอร์