2.2. Microstructure examinationMicr

2.2. Microstructure examination
Microstructures of all specimens were analyzed by X-ray diffraction (XRD), optical microscopy (OM), scanning electron microscopy (SEM) and electron probe microanalysis (EDS). For metallographic observations, all specimens were polished by SiC abrasive paper and polishing cloth, then etched with 4% nital. Microstructures of Fe–3.0 wt% B cast alloys were observed by a LEICA DMI 5000M optical microscopy and a VEGAIIXMUINCA-type scanning electron microscopy. To analyze the phase composition, X-ray diffraction (XRD) was carried out on a Rigaku D/Max-2400X diffractometer with copper Kα radiation at 40 kV and 200 mA as an X-ray source. And the specimens were scanned in the 2θ range of 15–90° in a step-scan mode (0.02° per step).
The volume fractions of borides in Fe–3.0 wt% B cast alloys with different Cr addition were detected by a DT2000 digital image analyzer. Ten random detecting points on the metallographic surface were selected for each specimen and the mean value was regarded as volume fraction of boride

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.2. ตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคโครงสร้างระดับจุลภาคของชิ้นงานทั้งหมดได้วิเคราะห์ โดยการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD), กล้องจุลทรรศน์แสง (OM), การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) และอิเล็กตรอนโพรบ microanalysis (EDS) สำหรับการสังเกต metallographic ชิ้นงานทั้งหมดถูกขัด โดย SiC ขัดกระดาษ และผ้า ขัดสลักแล้ว 4% nital โครงสร้างระดับจุลภาคของโลหะผสมหล่อ Fe – 3.0 wt % B ถูกตั้งข้อสังเกต ด้วยกล้องจุลทรรศน์แสง 5000 M ไลก้า DMI และ VEGAIIXMUINCA ชนิดแกนดัตช์ การวิเคราะห์องค์ประกอบขั้นตอน การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD) ดำเนินการบนเครื่อง X diffractometer Rigaku D/Max-2400 กับรังสี Kα ทองแดง 40 kV และ 200 mA ให้เอ็กซเรย์ และตัวอย่างสแกนในช่วง 2θ ของ 15 – 90 องศาในโหมดขั้นตอนการสแกน (0.02° ต่อขั้นตอน)เศษส่วนปริมาตรของ borides ใน Fe – 3.0 wt % B หล่อโลหะผสม Cr ด้วยแตกต่างกันถูกตรวจพบ โดยการวิเคราะห์ภาพดิจิตอล DT2000 สิบจุดสุ่มตรวจจับบนผิว metallographic ถูกเลือกสำหรับแต่ละชิ้นงาน และค่าเฉลี่ยยังถือว่าเป็นปริมาณเศษของ boride

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.2 การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาค
จุลภาคของตัวอย่างทั้งหมดถูกวิเคราะห์โดย X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) กล้องจุลทรรศน์แสง (OM) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) และสอบสวนอิเล็กตรอน microanalysis (EDS) สำหรับการสังเกต metallographic ตัวอย่างทั้งหมดถูกขัดโดย SiC กระดาษหยาบและผ้าขัด, ฝังแล้วกับ 4% Nital จุลภาคของ Fe-3.0% โดยน้ำหนักผสม B หล่อถูกตั้งข้อสังเกตโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แสง LEICA DMI 5000M และ VEGAIIXMUINCA ชนิดกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน การวิเคราะห์องค์ประกอบเฟส X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) ได้ดำเนินการใน diffractometer Rigaku D / Max-2400X กับทองแดงรังสีKαที่ 40 kV และ 200 มิลลิแอมป์เป็นแหล่งเอ็กซ์เรย์ และตัวอย่างที่ถูกสแกนในช่วง2θของ 15-90 องศาในโหมดขั้นตอนการสแกน (0.02 ต่อ° STEP).
เศษปริมาณของ borides ใน FE-3.0% โดยน้ำหนัก B ผสมหล่อด้วยนอกเหนือ Cr ที่แตกต่างกันถูกตรวจพบโดย DT2000 วิเคราะห์ภาพดิจิตอล สิบจุดตรวจจับแบบสุ่มบนพื้นผิว metallographic ได้รับการคัดเลือกในแต่ละชิ้นงานและค่าเฉลี่ยถูกมองว่าเป็นส่วนปริมาณของ boride

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.2 . การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคโครงสร้างจุลภาคของชิ้นงานโดยใช้การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์กล้องจุลทรรศน์แสง ( OM ) , กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) และจัดเรียงกันอยู่ด้วยอิเล็กตรอน ( EDS ) สำหรับการสังเกต Metallographic ทั้งหมดทำการขัดโดย SIC กระดาษขัดและขัดผ้า แล้วกัดด้วย 4 % nital . โครงสร้างจุลภาคของเหล็ก– 3.0 โดยน้ำหนัก บีหล่อโลหะผสมที่พบโดย LEICA DMI 5000M กล้องจุลทรรศน์แสงและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด vegaiixmuinca ประเภท . การวิเคราะห์เฟสองค์ประกอบการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ถูกหามออกใน rigaku D / max-2400x ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ด้วยทองแดง K αรังสี ที่ 40 กิโลและ MA 200 เป็นแหล่งกำเนิดรังสีเอ็กซ์ . และทำการสแกนในช่วง 2 θ 15 – 90 องศาในขั้นตอนการสแกนโหมด ( 0.02 องศาต่อขั้นตอน )ปริมาณของ Fe ( borides – 3.0 โดยน้ำหนัก บีหล่อโลหะผสมที่มี CR นอกจากถูกตรวจพบโดย dt2000 ภาพดิจิตอลวิเคราะห์ การสุ่มตรวจ 10 จุดบนพื้นผิว Metallographic สุ่มแต่ละตัวอย่างและค่าเฉลี่ยที่ถือเป็นปริมาณหินขัด