Scanning electron micrographs revea

Scanning electron micrographs revealed that the improvement achieved in mechanical properties was due to the interaction between both matrix system and kenaf fiber

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกน micrographs อิเล็กตรอนเปิดเผยว่า ปรับปรุงคุณสมบัติทางกลที่ทำได้เกิดการโต้ตอบระหว่างทั้งสองเมทริกซ์ระบบและปอแก้วใย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนแสดงให้เห็นว่าการพัฒนาประสบความสำเร็จในสมบัติเชิงกลที่เกิดจากการทำงานร่วมกันระหว่างทั้งสองระบบเมทริกซ์และเส้นใยปอแก้ว

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน พบว่า ความสำเร็จในการปรับปรุงคุณสมบัติทางกลจากการปฏิสัมพันธ์ระหว่างระบบทั้งสองเมทริกซ์และเส้นใยปอแก้ว