Specific X-ray Fluorescence Measuri

Specific X-ray Fluorescence Measuring Instruments (XRF) for Measurements and Analyses of Coating Thicknesses and Compositions on Wafers

The instruments are particularly suitable for the following applications:

Measurements on structures on wafers in the electronics and semiconductor industries
Analysis of very thin coatings, e.g., gold/palladium coatings of ≤ 0.1 μm (0.004 mils)
Determination of complex multi-coating systems
Automated measurements, e.g., in quality control

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เฉพาะ X-ray fluorescence เครื่องมือวัด (XRF) สำหรับวัดและการวิเคราะห์ความหนาเคลือบและองค์ประกอบบนเวเฟอร์เครื่องมือที่มีความเหมาะสมโดยเฉพาะอย่างยิ่งสำหรับการใช้งานต่อไปนี้: การวัดเกี่ยวกับโครงสร้างในเวเฟอร์ในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์การวิเคราะห์ของสารเคลือบบางมากเช่น ทอง / เคลือบแพลเลเดียมของ≤ 0.1 ไมครอน (0.004 Mils) การกำหนดระบบหลายเคลือบซับซ้อนอัตโนมัติการวัดเช่นในการควบคุมคุณภาพ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เฉพาะการเรืองรังสีเอกซ์วัด ( XRF ) สำหรับการวัดและการวิเคราะห์ความหนาเคลือบและองค์ประกอบบนเวเฟอร์

เครื่องมือโดยเฉพาะอย่างยิ่งเหมาะสำหรับการใช้งานต่อไปนี้ :

วัดบนเวเฟอร์ในการวิเคราะห์โครงสร้างอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์อุตสาหกรรม
เคลือบบางมาก เช่น ทอง / แพลเลเดียมเคลือบ≤ 0.1 M ( 0.004 μสัด )
การวิเคราะห์เชิงซ้อนหลายเคลือบระบบ
การวัดแบบอัตโนมัติ เช่น ในการควบคุมคุณภาพ