2.3. Morphology and chemical analysis of CS/SF blending membranes
The surface morphology of the CS/SF blending membranes was observed with a scanning electron microscope (SEM) (Hitachi S3000N, Hitachi, Ltd., Chiyoda, Tokyo, Japan). All specimens were coated with a conductive layer of sputtered gold for enhancing surface conductivity before scanning. Chemical structure of the membranes was investigated by Fourier transform infrared (FTIR) spectrometer using a spectrophotometer (Spectrum One, Perkin-Elmer Inc., Waltham, MA, U.S.A.) over a wavenumber range between 400 and 2000 cm−1 with a resolution of 0.125 cm−1.
2.3 สัณฐานวิทยาและการวิเคราะห์ทางเคมีของ CS / SF ผสมเยื่อ
ลักษณะพื้นผิวของซี / เอสเอฟเยื่อผสมเป็นที่สังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) (Hitachi S3000N, ฮิตาชิ จำกัด , ชิโยดะ, โตเกียว, ญี่ปุ่น) ตัวอย่างทั้งหมดถูกเคลือบด้วยชั้นนำของทอง sputtered เพื่อเสริมสร้างการนำพื้นผิวก่อนที่จะสแกน โครงสร้างทางเคมีของเยื่อถูกตรวจสอบโดยการแปลงฟูริเยอินฟราเรด (FTIR) สเปกโตรมิเตอร์ใช้สเปก (สเปกตรัมหนึ่งเพอร์กินเอลเมออิงค์วอลแทม, MA, USA) ในช่วง wavenumber ระหว่าง 400 และ 2000 ซม. -1 ที่มีความละเอียดของ 0.125 เซนติเมตร-1
การแปล กรุณารอสักครู่..
2.3 สัณฐานวิทยาและการวิเคราะห์ทางเคมีของ CS / SF ผสมเยื่อ
ลักษณะพื้นผิวของ CS / SF ผสมเยื่อถูกตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ( บริษัท ฮิตาชิ s3000n , Hitachi , Ltd . , ชิโยดะ , โตเกียว , ญี่ปุ่น ) ทุกชิ้นงาน Conductive เคลือบด้วยชั้นของเคลือบอนุภาคทอง เพื่อส่งเสริมการนำพื้นผิวก่อนการสแกนโครงสร้างทางเคมีของเยื่อถูกตรวจสอบด้วยฟูเรียร์ทรานฟอร์มอินฟราเรด ( FTIR ) สเปกโตรมิเตอร์โดยใช้ Spectrophotometer ( เพอร์กินเอลเมอร์อิงค์ , สเปกตรัม , วอลแทม , MA , USA ) กว่า wavenumber ช่วงระหว่าง 400 ถึง 2000 cm − 1 ด้วยความละเอียด 800 cm − 1
การแปล กรุณารอสักครู่..