Fig. 6. ZnO:B morphology as a funct

Fig. 6. ZnO:B morphology as a function of NC-ZnO filling layer thickness on a 1.8 mm thick base layer measured by AFM. (a) Base layer reference ZnO without filling,B2H6/DEZ ¼ 4.2 Á 10 À 4, (b)–(f) Base layer and NC-ZnO filling with a thickness of 85 nm, 170 nm, 340 nm, 680 nm and 1020 nm,respectively. All AFM scans are 2 Â 2 mm2, the scale bar is 500 nm, and the vertical scale is the same for all scans.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig. 6 สัณฐานวิทยา ZnO:B เป็นฟังก์ชันของความหนาของชั้น filling NC ZnO ใน 1.8 มม.หนาฐานชั้นวัด ด้วย AFM (a) ฐานชั้นอ้างอิง ZnO โดย filling, B2H6 DEZ ¼ 4.2 Á 10 เซ็ต 4, (ชั้นฐานของ b)–(f) และ filling NC ZnO มี a ความหนาของ 85 nm, 170 nm, 340 nm, 680 nm และ 1020 nm ตามลำดับ ทั้งหมด AFM สแกนมม 2 ได้ภายÂ 2 2 แถบมาตราส่วนเป็น 500 nm และสเกลแนวตั้งเหมือนกันสำหรับการสแกนทั้งหมดจะ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูป 6. ซิงค์ออกไซด์: สัณฐาน B เป็นหน้าที่ของ NC-ZnO ความหนาของชั้นสาย lling บนฐานชั้นหนา 1.8 มิลลิเมตรวัดจาก AFM (ก) ชั้นฐานอ้างอิง ZnO โดยไม่ต้องสาย lling, B2H6 / DEZ ¼ 4.2 10 A 4 (ข) - (ฉ) ชั้นฐานและ NC-ZnO สาย lling มีความหนา 85 นาโนเมตร, 170 นาโนเมตร 340 นาโนเมตร 680 นาโนเมตรและ 1020 นาโนเมตรตามลำดับ สแกน AFM ทั้งหมด 2 ย 2 mm2, บาร์ขนาด 500 นาโนเมตรและมีขนาดแนวตั้งจะเหมือนกันสำหรับการสแกนทั้งหมด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 6 P : B ) เป็นฟังก์ชันของ NC เช่นกันจึงบอกความหนา 1.8 มิลลิเมตร หนา ชั้นเป็นชั้นฐานวัดโดย AFM . ( A ) ชั้นฐานอ้างอิงโดยไม่จึงบอก b2h6 / ZnO , เดซ¼ 4.2 Á 10 À 4 ( b ) และ ( F ) ชั้นฐานและ NC เช่นกันจึงบอกกับความหนาของ 85 nm , 170 nm , 340 nm , 680 นาโนเมตรและ 1020 nm ตามลำดับ สแกน AFM ทั้งหมด 2 Â 2 แน่น มาตราส่วนแท่ง 500 นาโนเมตรและขนาดตามแนวตั้งเป็นเดียวกันทั้งหมด สแกน