An EM is a microscope that focuses

An EM is a microscope that focuses beams of energetic electrons to examine objects up to nano-scales.

They utilize the same principles behind an optical microscope, but rather than photons or particles of light, concentrate electrons, charged particles located on the outside of atoms, onto an object.

Additional differences include preparation of specimens before being placed in the vacuum chamber, the use of coiled electromagnets instead of glass lenses, the use of a thermionic gun as an electron source and the image or electron micrograph is viewed on a screen rather than an eyepiece.

All EMs use electromagnetic and/or electrostatic lenses, which consist of a coil of wire wrapped around the outside of a tube, commonly referred to as a solenoid.

In addition, EMs use digital displays, computer interfaces, software for image analysis and a low vacuum or variable pressure chamber, which upholds the pressure differential between the high vacuum levels essential to the gun and column area and the low pressure required in the chamber.

All electron microscopy samples must be prepared before placed in the microscope vacuum. Techniques, which vary based on type of specimen and analysis, include:

Cryofixation
Fixation
Dehydration
Embedding
Sectioning
Staining
Freeze-fracture and Freeze-etch
Sputter Coating
Most of these techniques require specialized training and, due to sample manipulation, can result in artifacts or inadvertent changes to the structure of the specimen.

Experienced researchers may be able to differentiate actual sample properties from artifacts, but there is no absolute way to identify all potential artifacts on every single sample.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ข้อยาวเป็นกล้องจุลทรรศน์ที่โฟกัสลำแสงของอิเล็กตรอนพลังสูงในการตรวจสอบวัตถุจนถึงระดับนาโนพวกเขาใช้หลักการเดียวกันหลังมีทรรศ แต่มากกว่าโฟตอนหรืออนุภาคของแสง อิเล็กตรอน สมาธิเรียกเก็บอนุภาคที่อยู่ด้านนอกของอะตอม ลงบนวัตถุความแตกต่างเพิ่มเติมรวมถึงการเตรียมชิ้นงานก่อนถูกวางไว้ในห้องสุญญากาศ ใช้แม่เหล็กไฟฟ้าขดแทนกระจก เลนส์ การใช้ปืน thermionic เป็นเป็นแหล่งอิเล็กตรอน และอิเล็กตรอนบอร์ดหรือภาพที่ดูบนหน้าจอแทนเลนส์ใกล้ตาเลนส์ทั้งหมด EMs ใช้แม่เหล็กไฟฟ้า หรือไฟฟ้าสถิต ซึ่งประกอบด้วยขดลวดที่พันรอบด้านนอกของท่อ มักเรียกว่านอยด์นอกจากนี้ EMs ใช้จอแสดงผลดิจิตอล อินเตอร์เฟส ซอฟต์แวร์วิเคราะห์ภาพ และดูดต่ำ หรือความดันแปรหอการ ค้า ซึ่งความดันแตกต่างระหว่างระดับสุญญากาศสูงแก่ปืน และพื้นที่คอลัมน์และความดันต่ำที่จำเป็นในห้องตัวอย่างทั้งหมดดัตช์ต้องจัดเตรียมก่อนวางในสูญญากาศกล้องจุลทรรศน์ เทคนิค ซึ่งแตกต่างไปตามชนิดของชิ้นงานทดสอบและวิเคราะห์ รวมถึง:Cryofixationตรึงการคายน้ำฝังนลิย้อมสีตรึงกระดูกและสลักตรึงSputter เคลือบเทคนิคเหล่านี้ส่วนใหญ่ต้องการการอบรม และ เนื่องจากตัวอย่างการจัดการ สามารถทำสิ่งประดิษฐ์หรือมากับโครงสร้างของชิ้นงานนักวิจัยที่มีประสบการณ์อาจแยกคุณสมบัติตัวอย่างจริงจากสิ่งประดิษฐ์ แต่จะไม่แน่นอนในการระบุสิ่งประดิษฐ์ที่มีศักยภาพทั้งหมดบนทุกอย่างเดียว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

EM เป็นกล้องจุลทรรศน์ที่มุ่งเน้นคานของอิเล็กตรอนที่มีพลังในการตรวจสอบวัตถุได้ถึงนาโนเกล็ดก.

พวกเขาใช้หลักการเดียวกันหลังกล้องจุลทรรศน์ แต่แทนที่จะโฟตอนหรืออนุภาคของแสงสมาธิอิเล็กตรอนอนุภาคมีประจุอยู่ด้านนอกของอะตอม บนวัตถุ.

ความแตกต่างเพิ่มเติมรวมถึงการเตรียมความพร้อมของตัวอย่างก่อนที่จะถูกวางไว้ในห้องสูญญากาศการใช้แม่เหล็กไฟฟ้าขดแทนเลนส์แก้ว, การใช้ปืน thermionic เป็นแหล่งอิเล็กตรอนและภาพหรืออิเล็กตรอน micrograph มีการดูบนหน้าจอ มากกว่าจะเป็นช่องมองภาพ.

ems ทุกการใช้งานและ / หรือเลนส์ไฟฟ้าสถิตแม่เหล็กไฟฟ้าซึ่งประกอบด้วยขดลวดพันรอบนอกของหลอดที่เรียกกันทั่วไปว่าโซเลนอยด์.

นอกจากนี้, EMS ใช้แสดงผลแบบดิจิตอลอินเตอร์เฟซคอมพิวเตอร์ซอฟแวร์สำหรับ การวิเคราะห์ภาพและสูญญากาศหรือห้องความดันตัวแปรต่ำซึ่งเป็นอันขาดค่าความดันระหว่างระดับสูญญากาศที่จำเป็นสูงปืนและคอลัมน์ในพื้นที่และความดันต่ำที่จำเป็นในห้อง.

ทั้งหมดตัวอย่างกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนจะต้องเตรียมวางไว้ก่อนในสุญญากาศกล้องจุลทรรศน์ . เทคนิคที่แตกต่างกันขึ้นอยู่กับประเภทของชิ้นงานและการวิเคราะห์รวมถึง:

Cryofixation
ตรึง
คายน้ำ
ฝัง
sectioning
ย้อมสี
ตรึงแตกหักและแช่แข็งกัด
พ่นเคลือบ
ฝึกอบรมที่สุดของเทคนิคเหล่านี้จำเป็นต้องมีความเชี่ยวชาญและเนื่องจากการลิ้มลองจัดการสามารถทำให้เกิดสิ่งประดิษฐ์หรือการเปลี่ยนแปลงโดยไม่ได้ตั้งใจ โครงสร้างของชิ้นงานได้.

นักวิจัยที่มีประสบการณ์อาจจะไม่สามารถแยกความแตกต่างคุณสมบัติตัวอย่างที่เกิดขึ้นจริงจากสิ่งประดิษฐ์ แต่ไม่มีวิธีที่แน่นอนในการระบุสิ่งประดิษฐ์ที่มีศักยภาพทั้งหมดในทุกตัวอย่างเดียว

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มีเอ็มเป็นกล้องจุลทรรศน์ที่เน้นพลังอิเล็กตรอนคานเพื่อตรวจสอบวัตถุได้ถึงระดับนาโนพวกเขาใช้หลักการเดียวกันหลังกล้องจุลทรรศน์ แต่แทนที่จะโฟตอนหรืออนุภาคของแสง มุ่งอิเล็กตรอนประจุที่อยู่บนด้านนอกของอะตอมบนวัตถุความแตกต่างเพิ่มเติมรวมถึงการเตรียมชิ้นงานก่อนที่จะถูกวางไว้ในสูญญากาศใช้ขดลวดแม่เหล็กไฟฟ้าแทนเลนส์แก้ว การใช้ปืนเธอไม นเป็นแหล่งอิเล็กตรอนและภาพหรืออิเล็กตรอน สามารถดูบนหน้าจอแทนที่จะเป็นเลนส์ใกล้ตา .ทั้งหมด EMS ใช้แม่เหล็กไฟฟ้า และ / หรือ เลนส์ไฟฟ้าสถิตซึ่งประกอบด้วยขดลวดห่อรอบนอกของท่อ โดยทั่วไปเรียกว่าขดลวดแม่เหล็กไฟฟ้านอกจากนี้ , EMS ใช้ดิจิตอลแสดงการเชื่อมต่อคอมพิวเตอร์ ซอฟต์แวร์สำหรับการวิเคราะห์ภาพสุญญากาศความดันต่ำ หรือห้องตัวแปรซึ่งค้ำจุนความดันแตกต่างระหว่างระดับสูญญากาศสูงที่เป็นปืนและพื้นที่คอลัมน์และความดันต่ำใช้ในห้องตัวอย่างการใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนทั้งหมดต้องเตรียมพร้อมก่อนที่จะวางไว้ในกล้องจุลทรรศน์ สูญญากาศ เทคนิค ซึ่งแตกต่างกันตามประเภทของการวิเคราะห์ ตัวอย่าง และรวมถึง :cryofixationการตรึงการฝังวุ่น.หยุดการแตกหักและตรึงกัดกร่อนละล่ำละลัก เคลือบที่สุดของเทคนิคเหล่านี้ต้องมีการฝึกอบรมเฉพาะและเนื่องจากตัวอย่างการจัดการสามารถผลสิ่งประดิษฐ์ หรือตั้งใจที่จะเปลี่ยนแปลงโครงสร้างของชิ้นงานนักวิจัยที่มีประสบการณ์อาจจะแยกแยะได้ว่า คุณสมบัติของตัวอย่างจริงจากสิ่งประดิษฐ์ แต่ไม่มีทางแน่นอนที่จะระบุสิ่งประดิษฐ์ที่มีศักยภาพทั้งหมด ทุกตัวอย่าง