The structures of CCTO and CCTO@Si6

The structures of CCTO and CCTO@Si69 were investigated by scanning electron microscopy (SEM) energy spectrum, Xray photoelectron spectroscopy (XPS), X-ray diffraction (XRD), Fourier transform infrared spectroscopy(FTIR), and Raman spectroscopy.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โครงสร้างของ CCTO และ CCTO@Si69 ถูกตรวจสอบ โดยการสแกนคลื่นพลังงานอิเล็กตรอน (SEM) มิก photoelectron เอ็กซ์เรย์ (XPS), เอ็กซเรย์เลี้ยว (XRD), spectroscopy(FTIR) อินฟราเรดการแปลงฟูริเยร์ และรามิก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงสร้างของ CCTO และ CCTO @ Si69 ถูกตรวจสอบโดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) สเปกตรัมพลังงาน Xray สเปคโทรโฟโตอิเล็กตรอน (XPS), X-ray diffraction (XRD) ฟูเรียร์อินฟราเรด (FTIR) และสเปคโทรรามัน