3.1.3. X-ray diffraction (XRD)As il

3.1.3. X-ray diffraction (XRD)
As illustrated in Fig. 3, the XRD profiles of catalysts exhibited the
characteristic peaks of crystalline phases, namely CaO, SiO2 and
Ca2SiO4. The CaO and SiO2 (quartz) peaks could be observed for all catalysts
and the Ca2SiO4 crystalline phase could be found at 2 h=31.4° in
catalysts 30% RHA800-800 and 20% RHA800-800. In the lowRHtreatment
temperature (400 °C and 600 °C) therewas only CaOand SiO2 peaks. Besides,
when the RH treatment temperature reached 800 °C, Ca2SiO4
crystalline phase could be found. However, when the CE loading increased
to 50 wt.%, the Ca2SiO4 crystalline phase disappeared.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เป็น 3.1.3 การเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบน (XRD)ดังที่แสดงใน Fig. 3 โพรไฟล์ XRD ของสิ่งที่ส่งเสริมจัดแสดงลักษณะแห่งผลึกระยะ ได้แก่ CaO, SiO2 และCa2SiO4 CaO และ SiO2 พีคส์ (ควอตซ์) ที่สามารถสังเกตสำหรับสิ่งที่ส่งเสริมทั้งหมดและ Ca2SiO4 เฟสผลึกพบที่ 2 h = 31.4 องศาในสิ่งที่ส่งเสริม 30% RHA800-800 และ 20% RHA800-800 ในการ lowRHtreatmentอุณหภูมิ (400 ° C และ 600 ° C) therewas เพียง CaOand SiO2 ยอด สำรองเมื่ออุณหภูมิ RH รักษาถึง 800 ° C, Ca2SiO4พบผลึกระยะ อย่างไรก็ตาม เมื่อโหลด CE เพิ่มขึ้นการ 50 wt.% เฟสผลึก Ca2SiO4 หายไป

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3.1.3 X-ray diffraction (XRD)
ที่แสดงในรูป 3 รูปแบบ XRD
ของตัวเร่งปฏิกิริยาจัดแสดงยอดลักษณะของผลึกขั้นตอนคือCaO, SiO2 และ
Ca2SiO4 เฉาและ SiO2 (ควอทซ์)
ยอดเขาอาจจะมีการตั้งข้อสังเกตสำหรับตัวเร่งปฏิกิริยาทั้งหมดและCa2SiO4 ผลึกสามารถพบได้ที่ 2 ชั่วโมง = 31.4
°ในตัวเร่งปฏิกิริยา30% RHA800-800 และ 20% RHA800-800 ใน lowRHtreatment
อุณหภูมิ (400 ° C และ 600 ° C) therewas ยอดเพียง CaOand SiO2 นอกจากนี้เมื่ออุณหภูมิรักษา RH ถึง 800 องศาเซลเซียส Ca2SiO4 ผลึกอาจจะพบ แต่เมื่อโหลดซีอีเพิ่มขึ้นถึง 50 น้ำหนัก.% ระยะผลึก Ca2SiO4 หายไป