1. Decap lot A34V because of this l

1. Decap lot A34V because of this lot is the risk that the explosion occurred NG by we will Decap lot at risk per 15 ICs/ Tray If found scratch, scrap that tray but if not found scratch to TC 10cyc.
2. Before lot A34V sampling decap. 2pcs/Tray because we check not found Chip scratch problem, we made the Decap lot lot to confirm.If not found scratch problem, release lot.
3. lot A29V not found Chip scratch from blade scratch so we Retape that to TC 10cyc. and FC --> Judge from FC result
4. Other lot : Judge after get result of A33V

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

1. decap มาก A34V เพราะล็อตนี้มีความเสี่ยงว่า การระเบิดเกิด NG โดยเราจะ Decap มากเสี่ยงต่อ 15 ICs / ถาดถ้าพบรอยขีดข่วน เสียที่ถาดแต่ถ้าไม่พบรอยขีดข่วนการ TC 10cyc2. ก่อนล็อต สุ่ม A34V decap 2pcs/ถาด เนื่องจากเราตรวจสอบไม่พบปัญหารอยขีดข่วนของชิป เราทำมากมาก Decap เพื่อยืนยันการถ้า ไม่พบปัญหารอยขีดข่วน ปล่อยมาก3. ล็อตไม่พบชิลบตั้งแต่ใบมีดเพื่อเรา Retape ที่การ TC 10cyc A29V และ FC--> ผู้พิพากษาจาก FC ผล4. อื่น ๆ มากมาย: ผู้พิพากษาหลังจากได้รับผลของ A33V

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

1. Decap มาก A34V มากเพราะนี้คือความเสี่ยงที่เกิดการระเบิด NG โดยเราจะ DECAP จำนวนมากที่มีความเสี่ยงต่อวงจรรวม 15 / ถาดหากพบว่ามีรอยขีดข่วนเศษที่ถาด แต่ถ้าไม่พบรอยขีดข่วนที่จะ TC 10cyc.
2 ก่อนมาก A34V สุ่มตัวอย่าง Decap 2 ชิ้น / ถาดเพราะเราตรวจสอบไม่พบปัญหารอยขีดข่วนชิปที่เราทำมากมาก Decap เพื่อ confirm.If ไม่พบปัญหารอยขีดข่วนมากปล่อย.
3 A29V มากไม่พบรอยขีดข่วนชิปจากรอยขีดข่วนใบดังนั้นเรา Retape ที่ TC 10cyc และเอฟซี -> ผู้พิพากษาจากผลเอฟซี
4 จำนวนมากอื่น ๆ : ผู้พิพากษาหลังจากที่ได้รับผลจากการ A33V

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

1 decap a34v มากมากเพราะนี่คือความเสี่ยงที่การระเบิดที่เกิดขึ้นของ โดยเราจะ decap มากเสี่ยงต่อ 15 ICS / ถาด ถ้าพบรอยขีดข่วน เศษซากที่ถาด แต่ถ้าไม่พบเกา TC 10cyc .
2 ก่อนมาก a34v ตัวอย่าง decap . 2 / ถาด เพราะเราตรวจสอบไม่พบชิปเริ่มต้นปัญหา เราทำ decap มากครับเพื่อยืนยัน หากไม่พบปัญหารอยขีดข่วนปล่อยมาก .
3ไม่พบมาก a29v ชิปเริ่มต้นจากรอยขีดข่วนใบมีด ดังนั้นเรา retape ที่ TC 10cyc . และ FC - > ตัดสินจากเอฟซีผล
4 ก : ตัดสินหลังจากได้รับผลของ a33v