X-ray diffraction (XRD) measurement

X-ray diffraction (XRD) measurements were done using a PANalytical X-Pert Pro MRD-XL diffractometer equipped by a CuK⍺ source and operated in Bragg–Brentano configuration. Solar cells (both a-Si:H/mc-Si:H tandem and mc-Si:H p-i-n devices) were produced to investigate the influence of variations in the front TCO morphology on performance.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ทำการวัดการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ใช้ diffractometer PANalytical X Pert Pro MRD-XL พร้อมแหล่ง CuK⍺ และดำเนินการในการตั้งค่าคอนฟิกของ Bragg-Brentano เซลล์แสงอาทิตย์ (ทั้งเป็น-Si:H / mc-Si:H ตัวตามกันไปและ mc-Si:H p-i-n อุปกรณ์) ผลิตเพื่อตรวจสอบอิทธิพลของรูปแบบในสัณฐานวิทยาโดยหน้าประสิทธิภาพ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray diffraction (XRD) วัดได้กระทำโดยใช้ PANalytical X-Pert Pro diffractometer MRD-XL ติดตั้งโดยแหล่งCuK⍺และดำเนินการในการกำหนดค่า Bragg-Brentano เซลล์แสงอาทิตย์ (ทั้ง-Si: H / MC-Si: H ควบคู่และ Mc-Si: H อุปกรณ์ขา) มีการผลิตเพื่อตรวจสอบอิทธิพลของการเปลี่ยนแปลงในลักษณะทางสัณฐานวิทยา TCO หน้าผลการดำเนินงาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวัดการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ ทำโดยใช้ panalytical x-pert Pro mrd-xl ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ติดตั้งโดย cuk ⍺แหล่งที่มาและดำเนินการในแบร็ก–โน การตั้งค่า เซลล์แสงอาทิตย์ ( ทั้งอะมอร์ฟัสซิลิคอน Si : H H / MC พิธีกร ซีตีคู่และอุปกรณ์ p-i-n H ) ถูกผลิตขึ้น เพื่อศึกษาผลกระทบของการเปลี่ยนแปลงในลักษณะที่สามารถ หน้า บน ประสิทธิภาพ