2.2.5. Structure of the dried rice

2.2.5. Structure of the dried rice noodle

2.2.5.1. Scanning electron microscopy (SEM)

Each dried rice noodle sample was mounted on a stub and both the rough and smooth surfaces were observed. Cross-sections were examined by fracturing the dried rice noodles and mounting on a stub. The cross-sectioned surface was observed from the top view. All dried rice noodles were observed under a scanning electron microscope (INSPECT S50, FEI, Netherland) at an accelerating voltage of 10 kV and a working distance of 5 mm in high vacuum mode. Magnification of 100× was applied for observation of both surfaces and magnification of 500× was applied for the cross-section.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.2.5. โครงสร้างของก๋วยเตี๋ยวแห้ง2.2.5.1. สแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM)แต่ละตัวอย่างก๋วยเตี๋ยวขนมถูกติดตั้งบนขั้ว และสุภัคทั้งพื้นผิวหยาบ และเรียบ Cross-sections ถูกตรวจสอบ โดย fracturing ก๋วยเตี๋ยวแห้ง และติดตั้งบน stub ผิว cross-sectioned ถูกสังเกตจากมุมมองด้านบน ขนมทั้งหมดได้สังเกตภายใต้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน (ตรวจ S50 เฟย เนเธอร์แลนด์) ที่มีแรงดันไฟฟ้าปัจจุบัน 10 kV และระยะทางทำงานในโหมดดูดสูง 5 มม. ขยายของฟิลด์ 100 ใช้สำหรับเก็บข้อมูลของพื้นผิวทั้งสอง และขยายของฟิลด์ 500 ถูกใช้ระหว่างส่วน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.2.5 . โครงสร้างของขนมจีนแห้ง

2.2.5.1 . กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )

แต่ละขนมจีนแห้งตัวอย่างติดตั้งบนตอไม้ และทั้งหยาบและเรียบพื้นผิวลดลง ข้ามส่วน ถูกตรวจสอบ โดยการแตก แห้ง ข้าว ก๋วยเตี๋ยว และยึดในต้นขั้ว ข้ามตัดพื้นผิวที่ถูกสังเกตได้จากมุมมองด้านบนก๋วยเตี๋ยวแห้งทั้งหมดที่พบภายใต้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( ตรวจสอบ s50 Fei , เนเธอร์แลนด์ ) ที่เร่งแรงดัน 10 kV และ 5 มม. ระยะการทํางานในโหมดสูญญากาศสูง ขยาย 100 ×ใช้สังเกตการณ์ทั้งพื้นผิวและการขยายของ 500 ×ใช้ขนาด .