C. Microscopic ExaminationMicroscop

C. Microscopic Examination
Microscopic examination of refractories can range from simple hand lens examination
to the use of sophisticated scanning or transmission electron microscopes
with magnification in the order of many thousands of times. The purpose of
examination is to increase the knowledge of microstructural properties of the

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ค การตรวจด้วยกล้องจุลทรรศน์
ตรวจด้วยกล้องจุลทรรศน์ของว​​ัสดุทนไฟที่สามารถช่วงจากการตรวจสอบเลนส์มือง่าย
การใช้การสแกนที่ซับซ้อนหรือกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเกียร์
ด้วยการขยายในคำสั่งของหลายพันครั้ง วัตถุประสงค์ของการตรวจสอบ
คือการเพิ่มความรู้เกี่ยวกับคุณสมบัติของจุลภาค

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

C. ตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์
refractories ตรวจด้วยกล้องจุลทรรศน์มีตั้งแต่การตรวจสอบเลนส์มือง่าย
การใช้ซับซ้อนการสแกนหรือการส่งผ่านอิเล็กตรอนคิต
กับขยายกับหลายพันครั้ง วัตถุประสงค์ของ
สอบจะเพิ่มความรู้ของคุณสมบัติ microstructural ของการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การตรวจสอบขนาดเล็กซึ่งการตรวจสอบ
ขนาดเล็กซึ่งค. refractories ช่วงจากการตรวจสอบเลนส์มือแบบเรียบง่าย
ซึ่งจะช่วยในการใช้ที่ของการสแกนที่อิเลคตรอนหรือการส่งสัญญาณ microscopes
ซึ่งจะช่วยขยายด้วยในการสั่งซื้อของหลายพันคนในช่วงเวลา วัตถุประสงค์ของ
ซึ่งจะช่วยการตรวจสอบคือการเพิ่มความรู้ของที่พัก microstructural ของ