3.5. ReproducibilityWhen considerin

3.5. Reproducibility
When considering instrumental long-term reproducibility of the analysis and in order to monitor instrumental problems and to check for accuracy during each run, we analyze one of several working standards during each run. The samples selected as working standards cover much of the typical range of oxide concentrations encountered in the analysis of most common silicate rocks, and provide a framework for evaluating long-term repeatability and for consideration of how well individual oxides can be measured. First of all, relative standard deviations vary with concentration. Overall, Si, A1, Fe, and Ca have relative standard deviations better than ± 5%, suggesting that in most cases these four elements can be measured exceedingly well. Judging from the results, for the other oxides, ± 5% precision can be obtained on MgO and TiO2 above ~ 3 wt%, and on K2O above ~ 4 wt%. The precision for Na2O appears to be inherently lower, but ± 5% (relative) at 3 wt% concentration is quite acceptable. Results for MnO and P2O5 are also acceptable at the low concentration levels involved. While evaluating the trace element concentrations the reproducibility could be achieved with ~ 2–3% bias values. However, for Ba and few exceptions with Hf, La and Ta having lower concentrations could not be detected. Further, the repeatability of XRF analysis depends on counting statistics, short term error (caused either by imprecise re-setting of instrument parameters or sample presentation), instrumental drift and sample preparation errors. In our spectrometer, sample presentation imprecision is minimum because an automatic sampler changes discs and the same sample holder was always used.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

3.5. แสดงเมื่อพิจารณาเป็นเครื่องมือแสดงระยะยาว ของการวิเคราะห์ และ เพื่อตรวจสอบปัญหาเครื่องมือ และ การตรวจสอบความถูกต้องในระหว่างการวิ่งแต่ละ เราวิเคราะห์มาตรฐานทำงานหลายอย่างใดอย่างหนึ่งในระหว่างแต่ละ ตัวอย่างเลือกเป็นมาตรฐานการทำงานครอบคลุมของช่วงความเข้มข้นของออกไซด์ที่พบในการวิเคราะห์หินซิลิเกตส่วนใหญ่ทั่วไป และให้กรอบ สำหรับการประเมินความสามารถในระยะยาว และพิจารณาวิธีการที่ดีสามารถวัดละออกไซด์ ก่อนอื่น ค่าเบี่ยงเบนมาตรฐานสัมพัทธ์กับความเข้มข้นแตกต่างกันไป โดยรวม ศรี A1, Fe, Ca และมีญาติค่าเบี่ยงเบนมาตรฐานดีกว่า± 5% แนะนำว่า ในกรณีส่วนใหญ่ สี่องค์ประกอบเหล่านี้สามารถวัดเหลือเกินดี ตัดสินจากผลลัพธ์ของ ออกไซด์อื่น ๆ, ± 5% ความแม่นยำได้ MgO และ TiO2 ข้าง ~ 3 wt % และ K2O ข้าง ~ 4 wt % ความแม่นยำสำหรับ Na2O ปรากฏประมาณต่ำ แต่± 5% (ญาติ) ที่ 3 wt %ความเข้มข้นเป็นที่ยอมรับค่อนข้าง ผลลัพธ์สำหรับ MnO และ P2O5 จะยอมรับได้ในระดับความเข้มข้นต่ำเกี่ยวข้อง ขณะประเมินความเข้มข้นของธาตุ การทำสำเนาอาจทำได้ด้วย ~ 2 – 3% ค่า bias ได้ อย่างไรก็ตาม สำหรับ Ba และข้อยกเว้นน้อยกับ Hf, La และตาที่มีความเข้มข้นต่ำไม่พบ ต่อไป ทำซ้ำการวิเคราะห์ XRF ขึ้นอยู่กับการนับสถิติ ระยะสั้นผิดพลาด (เกิดจากอย่างใดอย่างหนึ่ง โดยไม่ใหม่การตั้งค่าของพารามิเตอร์ของตราสารหรือตัวอย่างงานนำเสนอ), ดริฟท์บรรเลงและข้อผิดพลาดการเตรียมตัวอย่าง ในสเปกโตรมิเตอร์ของเรา ตัวอย่างงานนำเสนอ imprecision เป็นขั้นต่ำเนื่องจากการตรวจวัดอัตโนมัติเปลี่ยนดิสก์ และใช้ใส่ตัวอย่างเดียวกันเสมอ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3.5 การทำสำเนา
เมื่อพิจารณาการทำซ้ำในระยะยาวประโยชน์ของการวิเคราะห์และเพื่อตรวจสอบปัญหาที่เกิดประโยชน์และตรวจสอบความถูกต้องในระหว่างการทำงานในแต่ละเราจะวิเคราะห์หนึ่งของมาตรฐานการทำงานในช่วงหลายทำงานแต่ละ กลุ่มตัวอย่างที่เลือกเป็นมาตรฐานการทำงานที่ครอบคลุมมากของช่วงความเข้มข้นตามแบบฉบับของออกไซด์ที่พบในการวิเคราะห์มากที่สุดหินซิลิเกตที่พบบ่อยและให้กรอบการประเมินผลการทำซ้ำในระยะยาวและการพิจารณาวิธีการที่ดีออกไซด์ของแต่ละบุคคลสามารถวัดได้ แรกของทุกส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐานญาติที่มีความเข้มข้นแตกต่างกันไป โดยรวม, Si, A1, ซานตาเฟและ Ca มีการเบี่ยงเบนมาตรฐานสัมพัทธ์ดีกว่า± 5% ชี้ให้เห็นว่าในกรณีส่วนใหญ่เหล่านี้สี่องค์ประกอบที่สามารถวัดได้ดีเหลือเกิน ตัดสินจากผลการค้นหาสำหรับออกไซด์อื่น ๆ ± 5% ความแม่นยำสามารถรับได้ใน MgO และ TiO2 ข้างต้น ~ 3% โดยน้ำหนักและ K2O ข้างต้น ~ 4% โดยน้ำหนัก ความแม่นยำสำหรับ Na2O ดูเหมือนจะเป็นเนื้อแท้ลดลง แต่± 5% (ญาติ) ที่ความเข้มข้น 3% โดยน้ำหนักเป็นที่ยอมรับมาก ผลการค้นหาสำหรับ MnO และ P2O5 นอกจากนี้ยังได้รับการยอมรับในระดับความเข้มข้นต่ำที่เกี่ยวข้อง ขณะที่การประเมินธาตุความเข้มข้นในการทำซ้ำที่อาจจะประสบความสำเร็จกับ ~ 2-3% ค่าอคติ แต่สำหรับปริญญาตรีและข้อยกเว้นบางประการกับ Hf ลาตาและมีความเข้มข้นต่ำไม่สามารถตรวจพบ นอกจากนี้การทำซ้ำของการวิเคราะห์ XRF ขึ้นอยู่กับสถิตินับข้อผิดพลาดในระยะสั้น (ที่เกิดทั้งโดยไม่แน่ชัดอีกครั้งการตั้งค่าของพารามิเตอร์ตราสารหรืองานนำเสนอตัวอย่าง), ดริฟท์มีประโยชน์และข้อผิดพลาดการเตรียมสารตัวอย่าง ในสเปกโตรมิเตอร์ของเรานำเสนอตัวอย่างความไม่แน่ชัดขั้นต่ำเพราะตัวอย่างอัตโนมัติเปลี่ยนแปลงแผ่นและในฐานะผู้ถือตัวอย่างเดียวกันถูกนำมาใช้เสมอ