Fig. 1 shows XRD patterns of Mg-dop

Fig. 1 shows XRD patterns of Mg-doped ZnO thin films prepared on Si substrate with different Mg concentrations annealed at 873 K for 60 min. The XRD patterns indicate that the ZnO, ZnO:Mg-2%, ZnO:Mg-4% thin films possess a polycrystalline ZnO with the hexagonal wurtzite structure.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปที่ 1 แสดงรูปแบบ XRD ของ ZnO เจือ Mg films บาง ๆ บนพื้นผิวศรีพร้อมความเข้มข้น Mg ต่าง ๆ อบที่ 873 K สำหรับ 60 นาที รูปแบบการ XRD บ่งชี้ว่า ZnO, ZnO:Mg-2%, ZnO:Mg-4% บาง films มีค ZnO มีโครงสร้างหกเหลี่ยม wurtzite

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มะเดื่อ. รูปแบบที่ 1 แสดง XRD มิลลิกรัมเจือ ZnO LMS บาง Fi จัดทำขึ้นในศรีพื้นผิวที่มีความเข้มข้นแตกต่างกัน Mg อบที่ 873 K สำหรับ 60 นาที รูปแบบ XRD ระบุว่าซิงค์ออกไซด์, ซิงค์ออกไซด์: Mg-2% ZnO: Mg-4% LMS Fi บางมีซิงค์ออกไซด์ polycrystalline กับโครงสร้าง wurtzite หกเหลี่ยม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 1 แสดง XRD รูปแบบมก. ด้วยเช่นกันจึงเตรียมไว้บนพื้นผิวและบางจังหวัดที่มีความเข้มข้นแตกต่างกันในเครื่องอบต่อ K 60 นาทีซึ่งวิเคราะห์รูปแบบพบว่าสังกะสีออกไซด์ , ZnO : mg-2 % P : mg-4 % บางจึง LMS มีซิงค์ออกไซด์ที่มีโครงสร้าง wurtzite ผลึกหกเหลี่ยม