The technique of Secondary Ion Mass

The technique of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) is the most sensitive of all the commonly-employed surface analytical techniques - capable of detecting impurity elements present in a surface layer at < 1 ppm concentration, and bulk concentrations of impurities of around 1 ppb (part-per-billion) in favourable cases. This is because of the inherent high sensitivity associated with mass spectrometric-based techniques.

There are a number of different variants of the technique :

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เทคนิคของรองไอออนมวลใน Spectrometry (ซิมส์) สำคัญที่สุดของทั้งหมดว่าจ้างโดยทั่วไปผิววิเคราะห์เทคนิค - สามารถตรวจองค์ประกอบมลทินที่อยู่ในชั้นผิวที่เข้มข้น < 1 ppm และจำนวนมากความเข้มข้นของสิ่งสกปรกรอบ 1 ppb (ส่วนต่อล้าน) ในกรณีที่ดีได้ นี้เป็น เพราะความไวสูงโดยธรรมชาติที่เกี่ยวข้องกับมวล spectrometric ใช้เทคนิคมีจำนวนของตัวแปรต่าง ๆ เทคนิค:

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เทคนิคการมวลสารไอออนรอง (SIMS) เป็นที่มีความสำคัญมากที่สุดของทุกพื้นผิวทั่วไปลูกจ้างเทคนิคการวิเคราะห์ - ความสามารถในการตรวจสอบองค์ประกอบบริสุทธิ์อยู่ในชั้นผิวที่ <1 ppm ความเข้มข้นและความเข้มข้นของกลุ่มของสิ่งสกปรกประมาณ 1 ppb ( ส่วนต่อพันล้านดอลลาร์) ในกรณีที่ดี นี้เป็นเพราะความไวสูงโดยธรรมชาติที่เกี่ยวข้องกับมวล spectrometric ตามเทคนิค. มีจำนวนของสายพันธุ์ที่แตกต่างกันของเทคนิคที่มี:

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เทคนิคของรองไอออนมวลสาร ( ซิม ) ที่สําคัญที่สุดของทั้งหมดที่ใช้เทคนิคการวิเคราะห์พื้นผิว - สามารถตรวจสอบสิ่งเจือปนองค์ประกอบที่มีอยู่ในผิวชั้น < 1 ppm ความเข้มข้นและปริมาณขนาดใหญ่ของสิ่งสกปรกประมาณ 1 ppb ( part per billion ) ในรายดีนี้เป็นเพราะ บริษัท ที่เกี่ยวข้องกับความไวสูงมวลพื้นฐานเทคนิค

มีจำนวนของสายพันธุ์ที่แตกต่างกันของวิธีการ :