The wide variation in t50 (15-1600

The wide variation in t50 (15-1600 h) led us to apply a variety of complementary microanalytical techniques to determine the sources for this variation in conductor lifetimes.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เปลี่ยนแปลงมากมายใน t50 (h 15-1600) นำเราใช้เทคนิคเสริม microanalytical เพื่อกำหนดแหล่งมาสำหรับการเปลี่ยนแปลงนี้ในการนำอายุการใช้งานต่าง ๆ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบกว้างใน T50 (15-1600 ต่อชั่วโมง) ทำให้เราต้องใช้ความหลากหลายของเทคนิคระดับจุลภาคเสริมเพื่อตรวจสอบแหล่งที่มาสำหรับการเปลี่ยนแปลงในยุคสมัยนี้ตัวนำ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปแบบที่หลากหลายใน t50 ( 15-1600 H ) ทำให้เราใช้ความหลากหลายของเทคนิค microanalytical ประกอบเพื่อหาแหล่งที่มาสำหรับการเปลี่ยนแปลงนี้ในคอนดักเตอร์ช่วงชีวิต .