The parallelism control of the grin

The parallelism control of the grinding procedure that removed layers of few micrometers was done with the aid of a previous indentation pattern on three points of the sample perimeter. The patterns were observed in an optical microscope (Zeiss Axiotech) and the thickness of each removed layer was calculated by geometrical means.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การควบคุมกระบวนการบดที่เอาชั้นคัลไมโครมิเตอร์แบบหลาย parallelism เสร็จ ด้วยความช่วยเหลือของรูปแบบย่อหน้าก่อนหน้านี้ในสามจุดของขอบเขตตัวอย่าง รูปแบบสุภัคเป็นกล้องจุลทรรศน์แสง (Zeiss Axiotech) และมีคำนวณความหนาของแต่ละชั้นเอาด้วย geometrical

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การควบคุมความเท่าเทียมของขั้นตอนการบดที่เอาออกชั้นไม่กี่ไมโครเมตรได้ทำด้วยความช่วยเหลือของรูปแบบการเยื้องก่อนหน้านี้ในสามจุดของปริมณฑลตัวอย่าง รูปแบบที่พบในกล้องจุลทรรศน์แสง (Zeiss Axiotech) และความหนาของแต่ละชั้นออกที่คำนวณได้จากวิธีการทางเรขาคณิต

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในความควบคุมของกระบวนการบดออกชั้นของไม่กี่ไมโครเมตรได้ด้วยความช่วยเหลือของรูปแบบย่อหน้าก่อนหน้าของตัวอย่างปริมณฑล 3 จุด รูปแบบที่พบในกล้องจุลทรรศน์แบบแสง ( Zeiss axiotech ) และความหนาของชั้นแต่ละลบออกได้คำนวณเรขาคณิตหมายถึง