However a-IGZO thin films contain l

However a-IGZO thin films contain large density of defects-leading higher threshold voltage,sub-threshold swing and ibstability of the TFTs under negatively biased light illumination test

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

อย่างไรก็ตาม การ IGZO ฟิล์มบางประกอบด้วยความหนาแน่นขนาดใหญ่นำข้อบกพร่องสูงกว่าขีดจำกัดแรงดันไฟฟ้า สวิงย่อยขีดจำกัด และ ibstability TFTs ภายใต้รัศมีสว่าง biased ส่งทดสอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

อย่างไรก็ตาม-IGZO ฟิล์มบางมีความหนาแน่นมากของข้อบกพร่องชั้นนำของแรงดันไฟฟ้าที่สูงกว่าเกณฑ์แกว่งย่อยเกณฑ์และ ibstability ของ TFTs ภายใต้การทดสอบการส่องสว่างแสงลำเอียงในเชิงลบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

อย่างไรก็ตาม a-igzo ฟิล์มบางมีความหนาแน่นมากของข้อบกพร่องที่นำแรงดันไฟฟ้าเกณฑ์สูงกว่าเกณฑ์ย่อย สวิง และ ibstability ของ tfts ภายใต้แสงส่องสว่างแบบลำเอียงในเชิงลบ