2.5.4. Scanning electron microscopy

2.5.4. Scanning electron microscopy (SEM)
The surface morphology of the papers was examined using scanning
electron microscopy (SEM), using a FEI Quanta 200 scanning
electron microscope (FEI Company, Eindhoven, the Netherlands).
Samples were previously coated with gold using “Sputta Coater
S150” under vacuum. SEM was carried out to give further insight
on homogeneity of the coatings. All samples were examined using
an accelerating voltage of 20 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.5.4. สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)สัณฐานวิทยาผิวของเอกสารการตรวจสอบโดยใช้การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM), ใช้ในการสแกน 200 เฟยควอนตั้มกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (บริษัทเฟย ไอนด์โฮเวน เนเธอร์แลนด์)ตัวอย่างก่อนหน้านี้ถูกเคลือบ ด้วยทองใช้ "Sputta CoaterS150 "ภายใต้สุญญากาศ SEM ได้ดำเนินการเพื่อให้ความเข้าใจเพิ่มเติมบน homogeneity ของเคลือบ ตัวอย่างทั้งหมดถูกตรวจสอบโดยใช้แรงดันการเร่ง 20 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.5.4 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)
สัณฐานพื้นผิวของเอกสารที่ถูกตรวจสอบโดยใช้การสแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) โดยใช้เฟควอนตั้ม 200 สแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FEI บริษัท , Eindhoven, เนเธอร์แลนด์).
ตัวอย่างถูกเคลือบไว้ก่อนหน้านี้ด้วยทองคำโดยใช้ "Sputta Coater
S150 "ภายใต้สูญญากาศ SEM ได้ดำเนินการที่จะให้ข้อมูลเชิงลึกเพิ่มเติม
เกี่ยวกับความสม่ำเสมอของการเคลือบ ตัวอย่างทั้งหมดถูกตรวจสอบโดยใช้
แรงดันไฟฟ้าเร่ง 20 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.5.4 . กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )ลักษณะผิวของเอกสารที่ถูกตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด ( SEM ) , การใช้เฟต้า 200 สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( เฟย บริษัท , Eindhoven , เนเธอร์แลนด์ )ตัวอย่างก่อนหน้านี้ที่เคลือบด้วยทองใช้ " sputta เครื่องเคลือบs150 " ภายใต้สุญญากาศ ซึ่งมีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเชิงลึกเพิ่มเติมในความสม่ำเสมอของเคลือบ ตัวอย่างทั้งหมดจะถูกตรวจสอบโดยใช้เร่งแรงดัน 20 KV .