2.4. CharacterisationTransmissionel

2.4. Characterisation
Transmissionelectronmicrographswereobtainedfrom
a transmissionelectronmicroscopy(TEM,PhilipsFEI
CM12) systemandtheparticlesizewasmeasuredusing
analySISDocuVersion3.2imageprocessingsoftware.
A field-emissionscanningelectronmicroscopeequipped
with energy-dispersiveX-ray(EDX)(FE-SEM,Quanta
FEG450) wasusedtoanalysethesilicaparticles.TheN2
adsorption/desorptionisothermsweremeasuredbyan
automaticsurfaceareaandporesizeanalyser(Quantacer-
ome AUTOSORB-1)at77K.Thespecificsurfaceareawas
determined byusingBETequation.Asinglepointtotal
pore volumewasestimatedastheliquidvolumeofN2
adsorbed atarelativepressureof0.1and0.97,respec-
tively. AFourierTransformInfrared(FTIR)spectrum
(Perkin-Elmer2000)wasobtainedfromapelletcomposed
of amixtureofsampleandspectroscopic-gradeKBrata
mass ratioof 1/100 thatwasanalysedoverthewave
number rangeof4000–400cm1. X-raydiffraction(XRD)
patterns wereobtainedfromanX-raydiffractometer
(Philip ElectronicInstruments)usinganaccelerationvol-
tage of30kVandacurrentof160mA.Thediffraction
angle wasscannedfrom101 to 801 2y at 81 min1.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.4 การตรวจลักษณะเฉพาะของTransmissionelectronmicrographswereobtainedfromtransmissionelectronmicroscopy (ยการ PhilipsFEISystemandtheparticlesizewasmeasuredusing CM12)analySISDocuVersion3.2imageprocessingsoftwareฟิลด์-emissionscanningelectronmicroscopeequippedกับ energy-dispersiveX-ray(EDX) (FE SEM, QuantaWasusedtoanalysethesilicaparticles FEG450) TheN2ดูด ซับ/desorptionisothermsweremeasuredbyanautomaticsurfaceareaandporesizeanalyser(Quantacer-at77K.Thespecificsurfaceareawas ome AUTOSORB-1)byusingBETequation.Asinglepointtotal กำหนดvolumewasestimatedastheliquidvolumeofN2 รูขุมขนadsorbed atarelativepressureof0.1and0.97, respec-tively AFourierTransformInfrared (FTIR) สเปกตรัมWasobtainedfromapelletcomposed (เพอร์-Elmer2000)ของ amixtureofsampleandspectroscopic-gradeKBratathatwasanalysedoverthewave ratioof มวล 1/100หมายเลข rangeof4000-400 ซม. 1 X-raydiffraction(XRD)รูปแบบ wereobtainedfromanX-raydiffractometerUsinganaccelerationvol (ฟิลิป ElectronicInstruments) -tage of30kVandacurrentof160mA.Thediffractionwasscannedfrom101 มุมกับ 2y 801 ในนาที 81 1

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.4 Characterisation
Transmissionelectronmicrographswereobtainedfrom
transmissionelectronmicroscopy (TEM, PhilipsFEI
CM12) systemandtheparticlesizewasmeasuredusing
analySISDocuVersion3.2imageprocessingsoftware.
สนาม-emissionscanningelectronmicroscopeequipped
กับพลังงาน dispersiveX-ray (EDX) (FE-SEM, ควอนตั้ม
FEG450) AUTOSORB-1) at77K.Thespecificsurfaceareawas กำหนด byusingBETequation.Asinglepointtotal รูขุมขน volumewasestimatedastheliquidvolumeofN2 ดูดซับ atarelativepressureof0.1and0.97 ตามลําดับ AFourierTransformInfrared (FTIR) คลื่นความถี่(เพอร์กิน Elmer2000) wasobtainedfromapelletcomposed ของ amixtureofsampleandspectroscopic-gradeKBrata ratioof มวล? 1/100 thatwasanalysedoverthewave rangeof4000-400cm จำนวน 1 X-raydiffraction (XRD) รูปแบบ wereobtainedfromanX-raydiffractometer (ฟิลิป ElectronicInstruments) usinganaccelerationvol- Tage of30kVandacurrentof160mA.Thediffraction มุม wasscannedfrom101 ไป 801 2y ที่ 81 นาที 1

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.4 .

เป็นหลัก transmissionelectronmicrographswereobtainedfrom transmissionelectronmicroscopy ( TEM philipsfei cm12 systemandtheparticlesizewasmeasuredusing
,
) analysisdocuversion3.2imageprocessingsoftware .
สนาม emissionscanningelectronmicroscopeequipped
กับเรย์ dispersivex ENERGY ( การวัด ) ( fe-sem , Quanta then2

feg450 ) wasusedtoanalysethesilicaparticles .การดูดซับ / desorptionisothermsweremeasuredbyan
automaticsurfaceareaandporesizeanalyser ( quantacer -
โอม autosorb-1 ) at77k . thespecificsurfaceareawas

ตั้งใจ byusingbetequation . asinglepointtotal รูขุมขนดูดซับ volumewasestimatedastheliquidvolumeofn2
-
atarelativepressureof0.1and0.97 respec , มี . afouriertransforminfrared ( FTIR ) wasobtainedfromapelletcomposed

( perkin-elmer2000 ) สเปกตรัมของ amixtureofsampleandspectroscopic gradekbrata
มวลอัตราส่วน  1 / 100 thatwasanalysedoverthewave
จำนวน rangeof4000 – 400cm  1 กซ์เรดิฟแฟรค ชัน ( XRD )

( รูป wereobtainedfromanx raydiffractometer ฟิลิป electronicinstruments ) usinganaccelerationvol -
วัน of30kvandacurrentof160ma . thediffraction
มุม wasscannedfrom101 กับ 801 2y ที่ 81 นาที  1