X–ray diffraction is used to probe

X–ray diffraction is used to probe the crystallinity of neat PLA, PBAT and their blends. Thin film samples are analyzed using a wide-angle X-ray diffraction apparatus (shimadu XRD-6000) by Cu Ka (k ¼ 0.154nm) under a voltage of 35 KV and a current of 25mA radiation. Diffraction intensities are counted at 0.02
-steps and the scanning speed is 5
/min. The spectra are recorded in an angular range 5
< 2 y < 40
at room temperature

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

X – ray กระจายใช้หยั่งผลึก ของปลาเรียบร้อย PBAT ผสมของพวกเขา ตัวอย่างฟิล์มจะวิเคราะห์โดยใช้อุปกรณ์กระจาย X-ray มุมกว้าง (shimadu XRD-6000) โดย Ka Cu (k ¼ 0.154nm) ภายใต้แรงดันไฟฟ้า 35 KV และปัจจุบัน 25mA รังสี กระจายความเข้มจะนับที่ 0.02 - ขั้นตอนและความเร็วในการสแกน 5 /min สเปกตรัมถูกบันทึกไว้ในมีระยะเชิงมุม 5 < 2 y < 40 ที่อุณหภูมิห้อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray เลนส์ที่ใช้ในการแสดงความคิดเห็นเป็นผลึกของเรียบร้อย PLA, PBAT และการผสมของพวกเขา ตัวอย่างฟิล์มบางมีการวิเคราะห์โดยใช้มุมกว้าง X-ray เลนส์อุปกรณ์ (shimadu XRD-6000) โดยลูกบาศ์กกา (k ¼ 0.154nm) ภายใต้แรงดันไฟฟ้า 35 KV และปัจจุบันของรังสี 25mA ที่ ความเข้มของเลนส์จะถูกนับที่ 0.02? -steps และความเร็วในการสแกนคือ 5? / นาที สเปกตรัมจะถูกบันทึกในช่วงเชิงมุม 5? <2 Y <40? ที่อุณหภูมิห้อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

X –เรย์เลนส์ใช้โพรบผลึกของเรียบร้อยปลา , pbat และผสมของพวกเขา ตัวอย่างภาพยนตร์บาง จะใช้เครื่องมือวิเคราะห์ข้อมูลโดยใช้การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ ( shimadu xrd-6000 ) โดยจุฬาฯ ค่ะ ( k ¼ 0.154nm ) ภายใต้แรงดัน 35 กิโลโวลต์และกระแสของรังสี 25ma . โดยความเข้มจะนับที่ 0.02 - ขั้นตอนและการสแกนความเร็ว 5 / นาที นี้ถูกบันทึกไว้ในช่วงที่ 5 ( < 2 Y < 40 ที่อุณหภูมิห้อง