The powder X-ray difraction patern

The powder X-ray difraction patern of nanosilca is shown in Figure 1. A strong broad peak centered
at 2º (2θ) confirms the amorphous nature of silca which is suposed to be the characteristic of amorphous
SiO2. Due to thermochemical proces, the crystaline particles transforms into amorphous silca which is
indicated by broad peak9
.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Patern difraction เอ็กซ์เรย์ผงของ nanosilca จะแสดงในรูปที่ 1 สูงสุดกว้างแข็งแรงแปลกที่ 2º (2θ) ยืนยันลักษณะของ silca ซึ่งควรจะเป็นลักษณะของไปไปSiO2 เนื่องจากทา thermochemical อนุภาค crystaline แปลงเป็น silca ไปซึ่งเป็นตาม peak9 กว้าง.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ผง X-ray difraction patern ของ nanosilca จะแสดงในรูปที่ 1 ยอดกว้างที่แข็งแกร่งศูนย์กลาง
ที่ 2 º (2θ) ยืนยันลักษณะสัณฐานของ silca ซึ่ง suposed จะเป็นลักษณะของรูปร่าง
SiO2 เนื่องจากกระบวนการทางความร้อนและอนุภาคคริสตัลเปลี่ยนเป็น silca สัณฐานที่
ระบุโดย peak9 กว้าง
.

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ผง difraction patern รังสีเอกซ์ของ nanosilca แสดงไว้ในรูปที่ 1 แข็งแรงกว้างสูงสุดที่ศูนย์กลาง
2 º ( 2 θ ) ยืนยันลักษณะสัณฐานของ SILCA ซึ่งควรจะไป ลักษณะของสัณฐาน
SiO2 . เนื่องจากกระบวนการเคมีความร้อน , Crystaline อนุภาคเปลี่ยนเป็นอสัณฐาน SILCA ซึ่งเป็น peak9 ระบุโดยคร่าว ๆ