The repeatability for the NHq–ISFET

The repeatability for the NHq–ISFET is better in the normal mode of measurement. For 10 tests, the variation
of the slope is 1 mVrpNH error of 1.7 to 2% while in the differential mode, the variation of the slope is 4
mVrpNH error of 9 to 16% .

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ทำซ้ำสำหรับ NHq – ISFET ดีกว่าในโหมดปกติของการวัด สำหรับการทดสอบ 10 การเปลี่ยนแปลงความชันเป็น 1 mVrpNH พลาด 1.7-2% ในขณะที่ในโหมดแตกต่างกัน การเปลี่ยนแปลงของความชันคือ 4ข้อผิดพลาด mVrpNH % 9-16

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ทำซ้ำสำหรับ NHq-ISFET จะดีกว่าในโหมดปกติของการวัด 10 การทดสอบรูปแบบ
ของความลาดชันเป็นข้อผิดพลาด 1 mVrpNH 1.7 ถึง 2% ขณะที่ในโหมดที่แตกต่างกัน, การเปลี่ยนแปลงของความลาดชันคือ 4
ข้อผิดพลาดของ mVrpNH 9-16%

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเติบโตใน nhq – isfet จะดีกว่าในโหมดปกติของการวัด 10 การทดสอบการเปลี่ยนแปลงของความลาดชัน 1 mvrpnh ข้อผิดพลาดของ 1.7 2% ในขณะที่อยู่ในโหมดที่แตกต่างกันการเปลี่ยนแปลงของลาด 4mvrpnh ข้อผิดพลาด 9 ถึง 16 %