After the energy selection, the 30-

After the energy selection, the 30-keV beam was focused on the paint multilayer fragment by means of an elliptical single-bounce capillary to a spot size of 15μm. A MarCCD area detector (2 k × 2 k, 80 μm pixel size) was positioned behind the sample, acquiring two-dimensional diffraction patterns. Additionally, a silicon drift detector, positioned at 90◦ with respect to the incoming beam, allowed the simultaneous registration of fluorescence spectra, thereby combining XRF tomography (element distributions in a virtual cross section) and XRD tomography (crystallographic phase distributions). Figure 2 summarizes the combined μ-XRF/XRD tomography setup as well as the pattern decomposition method explained earlier.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

หลังจากเลือกพลังงาน แสง 30 keV ที่เน้นส่วนหลายชั้นสี โดยมีแรงเดียวเด้งรีขนาดจุดของ 15μm ตรวจการตั้ง MarCCD (2 k k × 2, 80 μm ขนาดพิกเซล) ที่วางอยู่เบื้องหลังตัวอย่าง ได้รับรูปแบบการเลี้ยวเบนแบบสองมิติ นอกจากนี้ เครื่องตรวจจับดริฟท์ซิลิคอน ตำแหน่งที่ 90◦ กับคานขาเข้า อนุญาตให้ลงทะเบียนพร้อมแรมสเป็คตรา fluorescence รวม XRF คอมพิวเตอร์ (องค์ประกอบการกระจายในส่วนข้ามเสมือน) และ XRD คอมพิวเตอร์ (crystallographic ระยะกระจาย) รูปที่ 2 สรุปการตั้งค่าคอมพิวเตอร์μ-XRF/XRD รวมเป็นวิธีแยกส่วนประกอบรูปแบบที่อธิบายไว้ก่อนหน้านี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

หลังจากที่เลือกพลังงานลำแสง 30 เคฟได้รับการมุ่งเน้นไปที่ส่วนหลายสีโดยวิธีการของเส้นเลือดฝอยเดียวตีกลับเป็นรูปวงรีขนาดจุด15μm เครื่องตรวจจับพื้นที่ MarCCD (2 × 2 k k, 80 ไมครอนขนาด pixel) อยู่ในตำแหน่งที่อยู่เบื้องหลังตัวอย่างการแสวงหารูปแบบการเลี้ยวเบนสองมิติ นอกจากนี้เครื่องตรวจจับลอยซิลิกอนในตำแหน่งที่90◦ที่เกี่ยวกับคานที่เข้ามาได้รับอนุญาตให้ลงทะเบียนพร้อมกันของสเปกตรัมเรืองแสงจึงรวมเอกซ์เรย์ XRF (แจกแจงองค์ประกอบในส่วนข้ามเสมือน) และการตรวจเอกซเรย์ XRD (แจกแจงขั้นตอน crystallographic) รูปที่ 2 สรุปรวมμ-XRF / XRD ติดตั้งเอกซ์เรย์เช่นเดียวกับวิธีการสลายตัวรูปแบบการอธิบายก่อนหน้านี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

หลังจากการใช้พลังงาน 30 keV บีมได้เน้นสีหลายส่วนโดยวิธีการของหลอดเลือดฝอยเด้งเดียวแบบเป็นจุดμขนาด 15 เมตร พื้นที่ marccd ตรวจจับ ( 2 × 2 K K , 80 μ M ขนาดพิกเซล ) เป็นตำแหน่งหลังตัวอย่าง รับสองมิติโดยรูปแบบ นอกจากนี้ ซิลิคอนลอยตรวจจับ , ตําแหน่งที่ 90 ◦เกี่ยวกับคานเข้ามาอนุญาตการลงทะเบียนพร้อมกันของการเปลี่ยนแปลงจึงรวม XRF โทโมกราฟี ( องค์ประกอบการกระจายในส่วนข้ามเสมือน ) และตรวจเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ ( การกระจายระยะทาง ) รูปที่ 2 สรุปรวมμ - XRF / ตรวจเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ รวมทั้งรูปแบบการติดตั้ง วิธีการอธิบายก่อนหน้านี้