Fig. 2. X-ray diffraction (XRD) pat

Fig. 2. X-ray diffraction (XRD) pattern of the composite semiconductor film
electrodeposited on the glass substrate: the symbols ●, ◊, ○, ◌ and † denote to
the phases SnO2, ZnSnO3, ZnO, CuO and Cu–Sn alloy, respectively; detected in the
composite film.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig. 2 รูปแบบการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ของฟิล์มผสมสารกึ่งตัวนำelectrodeposited บนพื้นผิวแก้ว: สัญลักษณ์● ◊ ○ ◌ และ † แสดงการระยะ SnO2, ZnSnO3, ZnO, CuO และ Cu – Sn โลหะผสม ตามลำดับ พบในการหนังโดยรวม

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มะเดื่อ. 2. X-ray diffraction (XRD) รูปแบบของภาพยนตร์คอมโพสิตเซมิคอนดักเตอร์
electrodeposited บนพื้นผิวแก้ว: สัญลักษณ์●, ◊, ○,
◌และ†จะแสดงขั้นตอนSnO2, ZnSnO3, ซิงค์ออกไซด์, ออกไซด์และโลหะผสมทองแดง-SN ตามลำดับ ;
ตรวจพบในภาพยนตร์คอมโพสิต

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 2 การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์แบบคอมโพสิตฟิล์มสารกึ่งตัวนำ
ด้วยไฟฟ้าบนแผ่นแก้ว : สัญลักษณ์●◊○ , , ,

และ◌ภีษมะแสดงระยะ SnO2 znsno3 , ZnO , 2 ( CU ) และ SN โลหะผสม ตามลำดับ ที่ตรวจพบใน
ฟิล์มคอมโพสิต