The X-ray diffraction measurement i

The X-ray diffraction measurement is carried out at the mode of transmission through the film (in plane correlations). XRD patterns were recorded on a D/max 2550 powder X-ray diffractometer (Rigaku) by using Cu Kα radiation (40 kV, 50 mA/100 mA). TEM images and SAED images were obtained with a JEOL 3010 microscope operated at 300 kV. Samples for TEM measurement were firstly scratched the film off the substrate and then scattered and suspended in ethanol and supported on a carbon-coated copper grid. AFM images were recorded with a SPA-300HV microscope (NSK) using Tapping-mode. SEM images were carried out by using a Siron 200 scanning electron microscope (FEI). IR spectra were recorded with KBr pellets using a infrared spectrum analyzer (EQUINOXSS/HYPERION2000, BRUKER). The TG/DSC curves are obtained with a Netzsch STA 449 C TG/DSC analyzer from 30 °C to 800 °C under N2 with a rate of 10 °C min−1.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การวัดการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์จะดำเนินในโหมดของการส่งผ่านฟิล์ม (ในระนาบความสัมพันธ์) XRD รูปแบบบันทึกในการ D/สูง สุด 2550 ผงเอกซเรย์ diffractometer (Rigaku) โดยใช้รังสี Cu Kα (40 kV, mA mA/100 50) ยการภาพและภาพ SAED ได้รับ ด้วยกล้องจุลทรรศน์ JEOL 3010 ดำเนินการ 300 kV ตัวอย่างสำหรับยการประเมินได้ประการแรกฟิล์มออกกับพื้นผิวที่มีรอยขีดข่วนแล้วกระจัดกระจาย และถูกระงับในเอทานอล และสนับสนุนเส้นทองแดงเคลือบคาร์บอน ได้รับการบันทึกภาพ AFM กับกล้องจุลทรรศน์สปา 300HV (NSK) ใช้แตะโหมด ภาพ SEM ถูกดำเนิน โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน Siron 200 (หุย) ได้รับการบันทึกแรมสเป็คตรา IR กับ KBr ขี้ใช้วิเคราะห์สเปกตรัมอินฟราเรด (EQUINOXSS/HYPERION2000, BRUKER) TG/DSC เส้นโค้งจะได้รับกับวิเคราะห์ Netzsch สตา 449 C TG/DSC ที่ 30 ° c ถึง 800 ° C ภายใต้ N2 ด้วยอัตรา 10 ° C min−1

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวัดการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์จะดำเนินการที่โหมดของการส่งผ่านฟิล์ม (ในความสัมพันธ์เครื่องบิน) รูปแบบ XRD ที่ถูกบันทึกไว้ใน D / สูงสุด 2,550 ผงมาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ (Rigaku)​​ โดยใช้รังสี Cu Kα (40 กิโลโวลต์, 50 มิลลิแอมป์ / 100 มิลลิแอมป์) ภาพ TEM และภาพ Saed ที่ได้รับด้วยกล้องจุลทรรศน์ JEOL 3010 ดำเนินการที่ 300 กิโลโวลต์ ตัวอย่างสำหรับการตรวจวัด TEM ถูกรอยขีดข่วนแรกภาพยนตร์เรื่องนี้ออกจากพื้นผิวและกระจายอยู่แล้วและที่ลอยอยู่ในเอทานอลและได้รับการสนับสนุนบนตารางทองแดงเคลือบคาร์บอน ภาพ AFM บันทึกด้วยกล้องจุลทรรศน์สปา 300HV (NSK) โดยใช้โหมดแตะ ภาพ SEM ได้ดำเนินการโดยใช้ Siron 200 สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FEI) IR สเปกตรัมถูกบันทึกไว้ด้วยเม็ด KBr ใช้วิเคราะห์สเปกตรัมอินฟราเรด (EQUINOXSS / HYPERION2000, Bruker) ขอบคุณ / โค้ง DSC จะได้รับกับการวิเคราะห์ Netzsch STA 449 C TG / DSC ตั้งแต่วันที่ 30 ° C ถึง 800 ° C ภายใต้ N2 มีอัตรา 10 ° C-1 นาที

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์วัดจะดำเนินการในโหมดของการส่งผ่านภาพยนตร์ ( ในความสัมพันธ์เครื่องบิน ) วิเคราะห์รูปแบบได้ถูกบันทึกไว้ใน D / แม็กซ์ 2550 แป้งเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( rigaku ) โดยใช้ Cu K αรังสี ( 40 กิโล มา 50 / 100 มา ) เต็มภาพ และภาพที่ได้รับ saed กับจอล 3010 กล้องจุลทรรศน์ดำเนินการ 300 KV .ตัวอย่างการวัดแบบมีวัตถุประสงค์รอยขีดข่วนฟิล์มปิดผิว และกระจัดกระจายอยู่ในเอทานอลและได้รับการสนับสนุนบนคาร์บอนเคลือบทองแดงตาราง ภาพที่ถูกบันทึกไว้ด้วย AFM spa-300hv กล้องจุลทรรศน์ ( NSK ) ใช้โหมดเคาะ . ภาพนี้ทดลองโดยใช้ซ์ 200 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( เฟย )IR spectra ที่ถูกบันทึกไว้กับ KBR เม็ดโดยใช้วิเคราะห์สเปกตรัมอินฟราเรด ( equinoxss / hyperion2000 บรุคเกอร์ , ) วัน TG / DSC โค้งได้ด้วย netzsch sta 449 C สายการบินไทย / DSC วิเคราะห์จาก 30 °องศาเซลเซียส 800 ° C ได้ที่ 2 ด้วยอัตรา 10 ° C มิน− 1