Fig. 8 shows the as-measured reflec

Fig. 8 shows the as-measured reflectance spectra of CuO and
Cu2O films. Here, the incident angle of beam is 858 to the film
surfaces. The Cu2O films have distinct characteristics in 300–
590 nm range whereas, CuO films do not exhibit such a peak in this
wavelength range. Similar results have been observed for Cu2O
films synthesized by thermal oxidation of copper [26]. The
reflectance of both films is lower than 40% except for the peak
value of Cu2O film. The reflectance spectra may be influenced by
the surface roughness of the films. In this case, both films are
coated under the same conditions and heated at different
temperatures. The average surface roughness of CuO and Cu2O
films obtained with AFM measurements were 18 nm and 22 nm,
respectively. These differences can influence the low reflectance of
CuO films in UV and visible range of the spectrum. In thin film
devices, such as solar cells, the optical reflectance plays a key role
on energy conversion efficiency. Typically, the high bandgap-Cu2O
layers can be employed in the top layers of solar cells while low
gap-CuO layers can be used as the absorption layers (bottom) of
solar cells. Therefore, the reflectance spectra of Cu2O films can be
considered as a key parameter in feasibility investigation of Cu2O
films for solar cell applications.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูป 8 แสดงสเปกตรัมสะท้อนเป็นวัดของ CuO และCu2O ภาพยนตร์ นี่ มุมตกกระทบของลำแสงคือ 858 ภาพยนตร์พื้นผิว ภาพยนตร์ Cu2O มีลักษณะแตกต่างกันใน 300 –590 nm ช่วงขณะ CuO ฟิล์มไม่แสดงสูงสุดดังกล่าวนี้ช่วงความยาวคลื่น ผลที่คล้ายกันได้รับการปฏิบัติสำหรับ Cu2Oภาพยนตร์สังเคราะห์ โดยการออกซิเดชันความร้อนของทองแดง [26] การแสงสะท้อนของภาพยนตร์ทั้งสองจะต่ำกว่า 40% ยกเว้นยอดค่าฟิล์ม Cu2O มุมสะท้อนแสงอาจมีผลมาจากพื้นผิวขรุขระของภาพยนตร์ ในกรณีนี้ ภาพยนตร์ทั้งสองจะเคลือบภายใต้เงื่อนไขเดียวกัน และความร้อนที่แตกต่างกันอุณหภูมิ หยาบผิวเฉลี่ยของ CuO และ Cu2Oภาพยนตร์ที่ได้รับจากการวัด AFM ถูก 18 nm และ 22 nmตามลาดับ ความแตกต่างเหล่านี้สามารถมีอิทธิพลต่อการสะท้อนต่ำของภาพยนตร์ CuO UV และระยะของสเปกตรัมที่มองเห็น ในฟิล์มบางอุปกรณ์ เช่นเซลล์แสงอาทิตย์ การสะท้อนแสงมีบทบาทสำคัญการแปลงพลังงาน โดยทั่วไป Cu2O bandgap ที่สูงชั้นสามารถนำมาใช้ในชั้นบนสุดของเซลล์แสงอาทิตย์ในขณะที่ต่ำใช้ช่องว่างของ CuO ชั้นเป็นชั้นดูดซับ (ล่าง) ของเซลล์แสงอาทิตย์ ดังนั้น มุมสะท้อนของ Cu2O ฟิล์มสามารถถือว่าเป็นพารามิเตอร์สำคัญในการตรวจสอบความเป็นไปได้ของ Cu2Oภาพยนตร์สำหรับการใช้งานเซลล์แสงอาทิตย์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มะเดื่อ. 8 แสดงสเปกตรัมสะท้อนเป็นวัดของออกไซด์และ
Cu2O ภาพยนตร์ นี่คือมุมของเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นเป็น 858 คานกับฟิล์ม
พื้นผิว ภาพยนตร์ Cu2O มีลักษณะที่แตกต่างใน 300-
590 นาโนเมตรช่วงขณะที่ฟิล์มออกไซด์ไม่แสดงดังกล่าวสูงสุดในวันนี้
ช่วงความยาวคลื่น ผลที่คล้ายกันได้รับการปฏิบัติสำหรับ Cu2O
หนังสังเคราะห์โดยการเกิดออกซิเดชันความร้อนของทองแดง [26]
สะท้อนของภาพยนตร์ทั้งต่ำกว่า 40% ยกเว้นสำหรับยอด
ค่าของภาพยนตร์ Cu2O สเปกตรัมสะท้อนอาจจะได้รับอิทธิพลจาก
พื้นผิวที่ขรุขระของภาพยนตร์ ในกรณีนี้ภาพยนตร์ทั้งสองจะถูก
เคลือบภายใต้เงื่อนไขเดียวกันและให้ความร้อนที่แตกต่างกัน
อุณหภูมิ พื้นผิวที่ขรุขระเฉลี่ยของออกไซด์และ Cu2O
ภาพยนตร์ที่ได้รับกับการวัด AFM 18 นาโนเมตรและ 22 นาโนเมตร
ตามลำดับ ความแตกต่างเหล่านี้จะมีผลต่อการสะท้อนต่ำของ
ฟิล์มออกไซด์ในช่วงรังสียูวีและมองเห็นของสเปกตรัม ในฟิล์มบาง
อุปกรณ์เช่นเซลล์แสงอาทิตย์ที่สะท้อนแสงมีบทบาทสำคัญ
ต่อประสิทธิภาพการแปลงพลังงาน โดยปกติแล้วสูง bandgap-Cu2O
ชั้นสามารถทำงานในชั้นบนสุดของเซลล์แสงอาทิตย์ในขณะที่ต่ำ
ชั้นช่องว่างออกไซด์สามารถใช้เป็นชั้นดูดซึม (ล่าง) ของ
เซลล์แสงอาทิตย์ ดังนั้นสเปกตรัมสะท้อนของภาพยนตร์ Cu2O สามารถ
พิจารณาเป็นพารามิเตอร์ที่สำคัญในการตรวจสอบความเป็นไปได้ของ Cu2O
ภาพยนตร์สำหรับการใช้งานเซลล์แสงอาทิตย์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ภาพที่ 8 แสดงวัดค่าสเปกตรัมของ 2 ( และภาพยนตร์ cu2o . ที่นี่ มุมของแสงแล้วให้ฟิล์มพื้นผิว การ cu2o ฟิล์มมีลักษณะแตกต่างกันใน 300 –590 nm ช่วง 1 , 2 ( หนังไม่แสดงยอดในนี้เช่นความยาวคลื่นในช่วง ผลที่คล้ายกันได้รับการตรวจสอบสำหรับ cu2oหนังสังเคราะห์โดยปฏิกิริยาทางความร้อนของทองแดง [ 26 ] ที่การสะท้อนแสงของฟิล์มทั้ง 2 กว่า 40 % ยกเว้น ยอดคุณค่าของ cu2o ฟิล์ม ที่อาจจะได้รับอิทธิพลจากการสะท้อนแสงสเปกตรัมความหยาบผิวของหนัง ในกรณีนี้ ทั้งภาพยนตร์เป็นเคลือบภายใต้เงื่อนไขเดียวกันและความร้อนที่แตกต่างกันอุณหภูมิ ความหยาบผิวเฉลี่ยของ cu2o 2 ( และภาพยนตร์ได้ด้วยการวัด AFM 18 nm และ 22 นาโนเมตรตามลำดับ ความแตกต่างเหล่านี้สามารถมีอิทธิพลต่อต่ำสะท้อนของภาพยนตร์ในช่วงที่ 2 ( UV และมองเห็นของสเปกตรัม ในฟิล์มบางอุปกรณ์ เช่น เซลล์แสงอาทิตย์ การสะท้อนแสงเล่นบทบาทหลักประสิทธิภาพการแปลงพลังงาน โดยทั่วไป bandgap-cu2o สูงชั้นสามารถใช้ในเลเยอร์ด้านบนของแผงเซลล์แสงอาทิตย์ ในขณะที่น้อยช่องว่าง 2 ( ชั้นที่สามารถใช้เป็นชั้น ( ล่าง ) ของการดูดซึมเซลล์แสงอาทิตย์ ดังนั้น ค่าสเปกตรัมของภาพยนตร์ cu2o สามารถถือว่าเป็นพารามิเตอร์ที่สำคัญในการ cu2o ความเป็นไปได้ภาพยนตร์สำหรับการประยุกต์ใช้ในเซลล์แสงอาทิตย์